Occasion KLA / TENCOR P11 #9397724 à vendre en France

L'équipement KLA/TENCOR P11 Wafer Testing and Metrology est conçu pour permettre des mesures de haute précision des propriétés des wafers, telles que la topographie de surface, la taille des caractéristiques et les caractéristiques des défauts. KLA P-11 est équipé de plusieurs sondes optiques et électriques et d'une technologie de balayage motorisé à résolution submicronique pour analyser avec précision une large gamme de substrats de plaquettes. Ces mesures permettent aux ingénieurs et aux scientifiques de caractériser des structures individuelles dans des environnements de production de volume élevé tout en obtenant des mesures précises de paramètres tels que la finition de surface, la largeur des lignes, l'uniformité des dimensions critiques et la répartition des défauts. Le système est doté d'une conception entièrement optique capable de fournir une imagerie à large champ et des mesures de précision à l'échelle du nanomètre. Une source laser mobile éclaire l'échantillon de plaquette qui est ensuite réfléchi hors de la surface et recueilli par un récepteur optique. Un module d'imagerie est alors utilisé pour capturer les données collectées et les stocker pour une analyse ultérieure. Pour analyser les données collectées, TENCOR P11 utilise plusieurs algorithmes physiques et mathématiques. Ces algorithmes sont utilisés pour calculer les contours de surface et révéler le profil de l'échantillon. Ils sont également utilisés pour examiner les caractéristiques des défauts de surface et mesurer la taille des caractéristiques. L'unité contient également une série d'outils de reconnaissance de motifs qui permettent la reconnaissance et l'extraction des caractéristiques, telles que les largeurs de lignes, l'uniformité des dimensions critiques et les défauts, de l'échantillon. En plus de ces fonctionnalités, KLA/TENCOR P 11 dispose également d'une interface utilisateur sophistiquée avec une interface utilisateur graphique intuitive avec plusieurs menus tactiles. Les entrées manuelles et automatisées sont prises en charge et la machine est capable de stocker et de cataloguer les données pour permettre le suivi des données et la gestion du flux de travail. L'outil est également équipé de plusieurs précautions de sécurité pour assurer l'intégrité des données et prévenir la perte de données. P11 Wafer Testing and Metrology actif est un outil puissant pour fournir des mesures précises et fiables pour les substrats de wafer, ce qui en fait un outil essentiel pour les ingénieurs de procédé et les scientifiques travaillant dans des environnements de production de semi-conducteurs.