Occasion KLA / TENCOR P12 #293628463 à vendre en France

KLA/TENCOR P12 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de haute performance conçu pour améliorer le rendement des semi-conducteurs et réduire les coûts. Ce système utilise des technologies avancées d'optique, d'éclairage et de traitement d'image pour fournir une analyse précise et rapide de la topographie des plaquettes, des micro-structures et des défauts. L'unité KLA P 12 est équipée d'un étage de plaquettes à 4 axes et intègre une caméra de balayage automatique pour créer des images précises de surfaces de plaquettes à haute résolution de 25 microns. En outre, cette machine utilise l'imagerie plein champ pour capturer des données topographiques continues à des vitesses élevées, éliminant le besoin de plusieurs étapes et augmentant le débit. Les données sont stockées dans un format numérique précis qui peut être rapidement transmis à l'étape suivante du processus. L'outil TENCOR P-12 dispose de capacités de détection de défauts 3D in situ qui peuvent détecter et mesurer même les défauts les plus difficiles avec une grande précision. Cet actif utilise un algorithme propriétaire de détection de défaut 3D, qui assure une détection de défaut précise et fiable sans aucune configuration manuelle. Dans le cadre du modèle, une suite logicielle complète d'analyse d'images est également fournie. Ce logiciel utilise des technologies avancées d'apprentissage automatique et d'intelligence artificielle pour fournir un large éventail de fonctionnalités telles que le suivi automatisé des processus, l'inspection des plaquettes, la caractérisation des plaquettes, l'analyse de forme, l'analyse des rendements, etc. Dans l'ensemble, le KLA P-12 fournit un équipement complet d'essai et de métrologie des plaquettes de haute précision qui est adapté pour maximiser les rendements des semi-conducteurs. Ce système fournit une imagerie précise, une acquisition de données à grande vitesse, une détection précise des défauts, une analyse complète des images et des capacités de suivi des processus.