Occasion KLA / TENCOR P15 #293633404 à vendre en France

KLA/TENCOR P15 est un équipement avancé d'essai et de métrologie des plaquettes qui permet une gestion de haute précision, des défauts automatisés et des rendements. Le système dispose d'une plate-forme intégrée pour garantir le plus haut niveau d'efficacité et de précision pour tester une large gamme de plaquettes semi-conductrices. L'unité KLA P-15 utilise deux technologies de pointe, les technologies d'imagerie Bright Field (BF) et Dark Field (DF). La machine BF fournit l'image globale de la surface de la plaquette, capturant des défauts qui ne peuvent pas être vus à l'aide de méthodes traditionnelles telles que la microscopie électronique à balayage. L'outil BF est également utilisé pour identifier les petits types de défauts tels que les particules, la souche, les fissures et les fosses. En plus de l'actif BF, TENCOR P 15 utilise également le modèle DF pour regarder en profondeur à l'intérieur de la plaquette. Cet équipement a une plus grande résolution que le système BF, lui permettant de détecter des défauts encore plus petits sur la plaquette avec une plus grande précision. Grâce à sa résolution améliorée, l'unité DF est en mesure de détecter les défauts intra-wafer et inter-die, ainsi que tout problème structurel qui pourrait exister. De plus, la machine DF est utilisée pour mesurer des géométries précises et assurer des dimensions précises de la plaquette. L'outil KLA/TENCOR P 15 est très précis et fiable pour les essais de plaquettes et les applications de métrologie, et il fournit un ensemble complet de fonctionnalités pour la précision et la vitesse. Ses algorithmes de test automatisés, ses capacités d'imagerie haute résolution, ses composants puissants de traitement des plaquettes, ses nouveaux modes d'éclairage et ses capacités avancées d'analyse des données en font une solution idéale pour tous les types de tests de plaquettes semi-conductrices et d'applications de métrologie. TENCOR P15 comprend également une gamme de routines de test automatisées qui permettent une analyse à haut débit, tout en fournissant une rétroaction en temps réel sur les résultats de chaque test. Il est ainsi plus facile d'identifier et de prioriser les problèmes de fabrication et les rendements, ce qui permet aux fabricants de prendre rapidement des mesures correctives si nécessaire. De plus, la conception modulaire et évolutive de l'actif permet aux utilisateurs de construire le modèle au fil du temps, ce qui leur permet d'augmenter leur capacité et leurs performances au fur et à mesure de leur croissance et de leur évolution. Globalement, KLA P15 est une solution de test et de métrologie avancée qui offre un ensemble complet de fonctionnalités et de capacités qui permettent aux fabricants d'atteindre le plus haut niveau de qualité et d'efficacité. Avec ses capacités d'imagerie de haute précision, ses routines de test automatisées et sa conception modulaire et évolutive, P-15 est bien adapté à toutes les exigences d'essai et de métrologie des plaquettes semi-conductrices.