Occasion KLA / TENCOR P15 #293677300 à vendre en France

KLA/TENCOR P15 wafer testing and metrology equipment est une machine de pointe utilisée par les fabricants de semi-conducteurs, permettant de contrôler la qualité de leurs dispositifs dans le processus de production. Ce système effectue des inspections optiques, la classification des défauts, les mesures de défauts et de rugosité, et la caractérisation des matériaux sur les plaquettes semi-conductrices dans un processus à la fois fiable et efficace. KLA P-15 utilise une conception optique de pointe pour se concentrer automatiquement et maximiser la détection et étendre la plage de balayage de 10 à 200mm. Cette unité utilise un microscope in situ et quatre axes de mouvement pour assurer une grande précision et un mouvement rapide sur une grande surface. Divers algorithmes d'acquisition d'images et de traitement de données sont utilisés pour acquérir les données nécessaires, les options intégrées d'examen des défauts fournissant le diagnostic et la caractérisation requis des défauts. Pour détecter et classer efficacement les défauts, la machine de test et de métrologie KLA P15wafer utilise des algorithmes avancés d'imagerie de synthèse et de détection automatique. De plus, des algorithmes de reconstruction d'images sont utilisés pour améliorer la visibilité des défauts difficiles à détecter. Une variété de capacités d'analyse automatique des plaquettes sont également incluses, permettant aux utilisateurs d'identifier et de classer rapidement et avec précision les défauts directement sur le substrat. D'autres caractéristiques de l'outil TENCOR P 15 comprennent un module d'interférométrie laser optionnel pour mesurer l'irrégularité de surface et un atout pour mesurer les performances de superposition. Une option de métrologie en temps réel est disponible pour mesurer et suivre la taille, la forme et l'orientation des structures sur la plaquette, telles que les largeurs de ligne et d'espace, les dimensions critiques et la taille des grains. Les utilisateurs peuvent également profiter d'un modèle avancé d'indice de capacité des processus (ICP) pour mesurer la qualité globale des plaquettes et la performance des processus. P15 les équipements d'essai et de métrologie des plaquettes offrent les meilleures capacités d'inspection, de caractérisation et d'examen intégré des défauts. Il est très précis, rapide et fiable, ce qui en fait un choix idéal pour les fabricants de semi-conducteurs qui cherchent à garantir la plus haute qualité de leurs composants. Avec ses fonctionnalités avancées et son interface conviviale, le système KLA P15 offre une solution idéale pour tester et métrologie des plaquettes semi-conductrices.