Occasion KLA / TENCOR P15 #293752717 à vendre en France

ID: 293752717
Surface profiler Does not include PC.
KLA/TENCOR P15 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des mesures précises et précises des propriétés et des caractéristiques de surface des plaquettes. Le système assure la caractérisation et le contrôle automatisés et non destructifs des dimensions critiques des plaquettes, de la topographie et des bandes de surface. Cette unité de test et de métrologie est construite avec la technologie la plus récente, utilisant une optique avancée, des capteurs et des logiciels pour fournir une précision inégalée et un flux de travail intégré. La machine KLA P-15 est conçue pour analyser et traiter des plaquettes jusqu'à 300mm de diamètre, et est capable de mesurer un large éventail de propriétés et de caractéristiques, y compris la planéité de surface, la hauteur des marches, la taille des défauts, l'ellipticité, le recouvrement, la rugosité, la largeur de ligne, l'épaisseur du film et les caractéristiques électriques. Pour ce faire, l'outil comprend une variété de systèmes de métrologie optique, électrique et thermique, y compris la microscopie électronique à balayage (SEM), la microscopie à force atomique (AFM), la spectroscopie et la spectrométrie. TENCOR P 15 comprend également des équipements de test non destructifs, tels que des testeurs d'étincelles et des sondes de capacité. KLA P 15 actif est conçu pour fournir le plus haut niveau de précision et de précision. Ses optiques, capteurs et logiciels exclusifs sont conçus pour optimiser les performances, permettant à la fois un haut débit et des résultats reproductibles. Le modèle est également conçu pour être convivial, permettant aux opérateurs de configurer et de surveiller l'équipement en quelques clics. KLA/TENCOR P 15 comprend également un soutien solide pour l'acquisition, l'analyse et la communication de données. Cela permet aux clients d'analyser et de suivre rapidement les résultats d'essais et les défauts, fournissant des informations essentielles pour valider les caractéristiques du produit. En outre, le système comprend un large éventail d'outils d'analyse pour une analyse sophistiquée des données, comme l'imagerie numérique et la cartographie des défauts. Unité de test et de métrologie KLA P15 offre précision, précision et flux de travail intégré, inégalé dans l'industrie des semi-conducteurs. Son ensemble d'outils amélioré et ses processus automatisés permettent aux clients d'analyser, de contrôler et de signaler rapidement les propriétés et les défauts des plaquettes. La machine est conçue pour garantir la qualité et la fiabilité du produit, permettant aux clients de maintenir un avantage concurrentiel.
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