Occasion KLA / TENCOR P15 #293798607 à vendre en France

KLA/TENCOR P15 wafer testing and metrology equipment est un outil de pointe conçu pour fournir une gamme complète de métrologie pour la technologie des semi-conducteurs. KLA P-15 dispose d'une technologie brevetée de laser à double détection et du manuel OptiSpec cup™ qui permet au système de mesurer à la fois des défauts physiques à haute résolution et des mesures paramétriques avancées allant des longueurs de ligne, des dimensions critiques et de la superposition simultanément. La génération linéaire à grande vitesse de faisceaux laser avancés combinée à une optique laser complémentaire et au traitement du signal numérique offre une précision unique. La technologie brevetée laser double détection permet également à l'unité de fonctionner avec des performances élevées à un faible coût de fonctionnement. La machine est équipée de sept options de portée de balayage allant jusqu'à 20mm le long de l'axe des x et 8 mm le long de l'axe des y, permettant des mesures multiples sur l'échantillon d'intérêt. En outre, TENCOR P 15 dispose d'un scanner mécanique avec commande de mouvement de décalage monochrome, permettant un positionnement précis et une livraison douce de l'échantillon. P15 est également optimisé pour un fonctionnement rapide et efficace. L'outil peut être facilement configuré et programmé, ce qui le rend adapté à une utilisation en laboratoire et dans des environnements de production. Le moteur de balayage embarqué est optimisé pour un débit maximum et comprend des algorithmes avancés de correction d'erreurs et de conception à faible bruit pour garantir des résultats précis et reproductibles. Par ailleurs, le KLA/TENCOR P 15 est équipé d'une table de montage (DMT) à puce optiquement variable (OVC) qui permet de s'assurer que les données de mesure reflètent le plus précisément possible les mesures prises sur l'échantillon. De plus, les optiques d'inspection visuelle TENCOR P-15 permettent l'imagerie haute résolution et la métrologie de caractéristiques aussi petites que 0,1 microns. L'unité de traitement intégrée de l'actif est alimentée par le Autodrive™ qui aide à rationaliser le processus de préparation et d'analyse des échantillons. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR P-15 wafer test and metrology model est un outil de métrologie de pointe conçu pour la technologie des semi-conducteurs et offre une excellente précision, vitesse et précision. L'équipement permet des mesures multiples en un seul balayage et est équipé d'une optique d'imagerie et de métrologie haute résolution, d'une technologie laser de pointe et d'un traitement numérique du signal. En outre, le système est configuré avec une table de montage de puce et de matrice optiquement variable pour assurer le plus haut niveau de précision et de répétabilité.