Occasion KLA / TENCOR P15 #293809526 à vendre en France

KLA/TENCOR P15 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Le système est équipé de caméras haute résolution et de logiciels de traitement d'image, lui permettant de détecter et de mesurer avec précision les défauts sur les plaquettes avec un degré élevé de précision. L'unité est également équipée d'une technologie multi-capteurs et multi-mesures, ce qui la rend capable de plusieurs types de mesures, y compris l'épaisseur, la planéité, la détection des fissures et l'imagerie tridimensionnelle. La machine est construite autour d'une architecture d'inspection en ligne qui comprend une alimentation intégrée, prober, étape de cartographie, et les revêtements de niveau de plaquette. Cette architecture élimine toute étape de transfert, permettant des tests de plaquettes à haut débit. De plus, les algorithmes d'imagerie avancés de l'outil identifient et classent les défauts en fonction de paramètres tels que la forme, le contraste et la taille. Cette architecture simplifie également les opérations à double outil, permettant à KLA P-15 d'inspecter et de mesurer sur une seule plaquette sans reconfiguration complexe des actifs. Le modèle est également équipé d'un logiciel d'inspection et de métrologie KLA série C, doté de capacités de métrologie avancées et d'un logiciel d'optimisation du temps de cycle. Ce logiciel permet aux utilisateurs d'effectuer un large éventail d'inspections, y compris l'exclusion des bords, la détermination de la largeur des lignes, la planéité des CD, le profil des CD, la profondeur de gravure, l'épaisseur des couches minces et l'inclinaison des CD. En outre, le logiciel fournit également des algorithmes robustes pour la corrélation outil-outil et modèle-modèle, ainsi que le contrôle statistique des processus et l'analyse du rendement. TENCOR P 15 est capable de mesurer à la fois des structures en vrac et des dispositifs sur tous les matériaux semi-conducteurs, y compris le silicium, le germanium et l'arséniure de gallium. En outre, son étalonnage automatisé et ses flux de travail prod réduisent considérablement les temps de configuration, permettant aux utilisateurs de mettre l'équipement en marche rapidement. Le système est également équipé d'étages de roulement à air haute performance, offrant un mouvement de plaquette lisse et un positionnement précis des plaquettes. Dans l'ensemble, P15 est une unité d'essai et de métrologie avancée conçue pour l'industrie des semi-conducteurs. Les caméras haute résolution et le logiciel de traitement d'image de la machine sont capables de détecter et de mesurer avec précision les défauts sur une variété de plaquettes différentes. De plus, sa technologie intégrée multi-capteurs et multi-mesures la rend capable d'effectuer une variété de mesures différentes sur une seule plaquette. En outre, le logiciel d'inspection et de métrologie TENCOR C Series de l'outil offre des capacités de métrologie robustes et un logiciel d'optimisation du temps de cycle, permettant aux utilisateurs d'effectuer des inspections de base et sophistiquées rapidement et facilement.