Occasion KLA / TENCOR P15 #293813803 à vendre en France

KLA/TENCOR P15 Wafer Test and Metrology Equipment est un outil automatisé utilisé pour mesurer les paramètres physiques et électriques des wafers semi-conducteurs pendant le processus de fabrication. Il offre des capacités de métrologie et de sondes à haute vitesse et haute résolution, donnant aux fabricants la précision et les performances qu'ils exigent. KLA P-15 est un système puissant qui dispose d'une large gamme de capacités avancées. Sa technologie de vision avancée permet de localiser avec précision les défauts sur les plaquettes. Il possède des fonctions automatisées d'analyse d'image, de diagnostic et de focalisation automatique, qui permettent à l'opérateur de résoudre plus efficacement les problèmes de dépannage. L'unité comprend également une capacité intégrée de mesure des dimensions critiques de la matrice qui permet de mesurer avec précision les caractéristiques des petits dispositifs à semi-conducteur avec une résolution de sous-microns. En outre, le TENCOR P 15 comporte un certain nombre de fonctions de manutention de plaquettes qui permettent de charger des plaquettes pour des tests et de les déplacer à différentes étapes du processus de fabrication. Cela permet non seulement d'augmenter le débit et la précision, mais aussi de réduire les risques d'endommagement des plaquettes. Pour les tâches de mesure et d'analyse, TENCOR P15 utilise une gamme de sondes et d'instruments pour saisir les données nécessaires à l'opérateur. Il s'agit notamment de microscopes légers, de microscopes laser, de testeurs électriques, de sondes de résistance, de sondes de température et de sondes de tension. Les données sont ensuite introduites dans une base de données centrale et servent à générer des rapports détaillés sur des paramètres tels que l'épaisseur des plaquettes, la planéité, la contrainte, la résistance électrique, etc... KLA/TENCOR P-15 fournit également des capacités de métrologie avancées qui comprennent des algorithmes sophistiqués et des logiciels qui permettent d'examiner les fonctionnalités à une vitesse et une précision extrêmement élevées. Ceci est possible grâce à la capacité des systèmes à aligner et mesurer avec précision les caractéristiques sur une plaquette avec une précision nanométrique. Ces données peuvent ensuite être utilisées pour répondre à tous les problèmes survenant dans le processus de fabrication du dispositif. Enfin, KLA P 15 offre une variété de fonctions de reporting. Cette puissante machine dispose d'une interface de reporting sophistiquée qui peut être utilisée pour produire des rapports détaillés pour les clients et pour le contrôle de qualité. Il permet également aux utilisateurs de produire rapidement des documents, des graphiques et des rapports qui contiennent tous les paramètres nécessaires. Au total, TENCOR P-15 Wafer Test and Metrology Tool est un outil idéal pour mesurer et évaluer les paramètres physiques et électriques des plaquettes semi-conductrices. Ses capacités avancées en ont fait un favori des fabricants de semi-conducteurs qui peuvent maintenant utiliser cet outil pour améliorer les rendements des produits et minimiser les défauts.