Occasion KLA / TENCOR P15 #9159741 à vendre en France

KLA/TENCOR P15 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour analyser les plaquettes à semi-conducteurs. Le système utilise des techniques de métrologie automatisée avancées pour détecter les défauts sur les plaquettes qui peuvent être causés pendant les processus de fabrication. KLA P-15 est conçu pour balayer l'ensemble de la plaquette et détecter même le plus petit défaut à la surface de la plaquette. L'unité peut également détecter et classer toute aberration dans la surface de la plaquette, telle que variation d'épaisseur et report de surface. La machine utilise un microscope optique haute résolution avec correction d'aberration chromatique intégrée pour balayer la plaquette en plusieurs points avec la plus grande précision. L'outil peut également être équipé d'algorithmes avancés conçus pour reconnaître automatiquement les motifs anormaux et les comparer avec des motifs standard prédéterminés. L'actif intègre également la microscopie à lumière polarisée pour fournir un débit et une précision de détection plus élevés. Le modèle fournit une interface utilisateur intuitive pour un fonctionnement facile. Il comprend une inspection vidéo intégrée pour l'examen manuel de tout défaut. Des fonctionnalités telles que la cartographie des plaquettes en temps réel et le contrôle de focalisation automatisé permettent un balayage rapide et facile. Les capacités d'apprentissage profond de l'équipement fournissent un aperçu intuitif tridimensionnel de la carte de la plaquette, qui peut être utilisé pour identifier tout type de défauts dans la plaquette. Outre la détection des défauts, le système peut également être utilisé pour d'autres types de mesures critiques. Il fournit des résultats précis pour des mesures telles que l'épaisseur du film, la largeur de ligne et la densité des particules. Il peut également être utilisé pour analyser des structures telles que des vias, des tranchées, des trous de contact et des poteaux. Il offre également des capacités de métrologie telles que la planéité du film et les mesures d'inclinaison. Les outils SPC intégrés de TENCOR P 15 permettent le contrôle statistique des processus et la détection précoce des problèmes potentiels qui peuvent causer des problèmes de qualité des produits. Ces informations peuvent être utilisées pour une analyse approfondie et une amélioration continue des processus. L'unité offre également une foule d'autres fonctionnalités telles que le support à distance, l'archivage des données et la déclaration automatisée. Dans l'ensemble, KLA P 15 est une machine d'essai et de métrologie complète conçue pour améliorer l'efficacité et le rendement des processus tout en fournissant une détection précise des défauts. L'interface utilisateur intuitive de l'outil et ses puissantes capacités de métrologie en font un outil idéal pour l'industrie des semi-conducteurs.