Occasion KLA / TENCOR P15 #9261862 à vendre en France

KLA/TENCOR P15 est un système automatisé d'essai de plaquettes et de métrologie. Il s'agit d'une plate-forme multi-outils qui est utilisée pour l'inspection avancée des plaquettes, la classification des défauts, l'acquisition optique et la topographie sans contact. KLA P-15 est conçu pour effectuer des essais de plaquettes et de métrologie avec une grande précision et un débit élevé. Il offre à la fois des modes optiques avancés et sans contact. En mode optique, TENCOR P15 peut mesurer la réflectivité, le contraste optique et le contraste matériel. En outre, il peut générer des données de profil à l'échelle nanométrique afin de mesurer les dimensions critiques et les hauteurs des caractéristiques. En mode sans contact, il peut détecter de petits défauts en utilisant des techniques de balayage laser. P 15 est conçu avec des capacités analytiques avancées. Avec ses algorithmes pilotés par l'IA, TENCOR P-15 est capable de détecter, identifier et classer automatiquement un large éventail de défauts. Il dispose également d'algorithmes avancés de correspondance de motifs qui permettent un examen plus rapide et plus précis des cartes et des données de wafer. En termes de précision, KLA P15 a une résolution maximale de 0,4 µm avec une précision de 0,1 µm. Sa dynamique peut atteindre 10 millions : 1. En outre, KLA/TENCOR P 15 est conçu pour être très flexible, permettant aux utilisateurs de reconfigurer facilement le système selon différentes exigences de métrologie. En outre, P-15 est conçu pour être ergonomique, avec un accès facile au chargement des échantillons, au passage des échantillons et à l'examen de la carte des plaquettes. Dans l'ensemble, KLA P 15 fournit aux utilisateurs un système avancé de test et de métrologie des plaquettes. Grâce à sa précision, sa flexibilité et son ergonomie, il est bien adapté à toute une gamme d'applications dans la fabrication de semi-conducteurs.