Occasion KLA / TENCOR P15 #9302869 à vendre en France

ID: 9302869
Surface profiler.
L'équipement d'essai et de métrologie KLA/TENCOR P15 est une plate-forme de métrologie automatisée qui permet de mesurer avec précision diverses caractéristiques des plaquettes semi-conductrices. Il offre une gamme complète d'outils de wafer, y compris un outil de cartographie de wafer, des outils de métrologie optique, des outils de test d'accélération, et une large gamme d'autres outils de mesure et d'analyse. Il a également été conçu pour être facile à utiliser, avec une interface utilisateur intuitive et une bibliothèque complète de procédures de test standard et sur mesure. KLA P-15 est livré avec un certain nombre d'outils de métrologie optique puissants, tels qu'un outil de contournage et un profileur d'épaisseur. Il est conçu avec un système de focalisation automatisé qui assure des mesures précises en une fraction du temps des techniques manuelles. En outre, TENCOR P 15 dispose d'un faisceau laser de grande puissance pour les applications de texturation laser et de fixation de plaquettes. La tension d'utilisation du laser est réglable pour des applications spécifiques, et le laser peut être réglé en mode impulsionnel pour des résultats plus précis. KLA P 15 peut également mesurer l'accélération d'une plaquette. L'unité utilise des accéléromètres à grande vitesse et un codeur de haute précision pour mesurer avec précision l'accélération et la décélération d'une plaquette lors des essais. De plus, l'outil de test d'accélération/décélération de la plaquette peut être utilisé pour créer des résultats de test reproductibles et assurer la qualité de la plaquette. La machine dispose également d'un outil de cartographie multi-colonnes qui est conçu pour cartographier avec précision la surface d'une plaquette. L'outil utilise un tableau de 16 colonnes pour créer facilement une carte de la surface de la plaquette, y compris son épaisseur, sa hauteur, sa superficie, et plus encore. L'outil peut également être exploité au moyen d'une interface logicielle standard pour une utilisation optimale. Dans l'ensemble, P 15 est une plate-forme de métrologie automatisée qui offre une gamme d'outils et de fonctionnalités puissants pour le test des plaquettes et la métrologie. Il a été conçu avec une interface conviviale et peut obtenir des résultats précis en une fraction du temps des méthodes manuelles. De plus, KLA P15 est équipé d'une variété d'outils pour mesurer l'accélération et la décélération, le contournage, la texturation laser et la cartographie des plaquettes. Ces caractéristiques font de P15 un excellent choix pour les essais de plaquettes et les applications de métrologie.
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