Occasion KLA / TENCOR P15 #9306139 à vendre en France

KLA/TENCOR P15 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour être utilisé dans les industries de fabrication de semi-conducteurs et de circuits intégrés. Il est utilisé pour détecter et analyser les défauts sur les plaquettes semi-conductrices et fournir des résultats à l'équipe d'ingénierie. Le système KLA P-15 permet l'examen des plaquettes avec une unité d'imagerie haute résolution et la capacité de mesurer précisément la taille des échantillons et des défauts. Il est équipé d'une machine d'imagerie haute résolution qui capture des images d'échantillons et effectue une gamme de tests rigoureux. Cet outil utilise l'imagerie optique et infrarouge et la spectroscopie ainsi que la détection. Pour tester une plaquette, TENCOR P 15 utilise la technologie du faisceau laser et des algorithmes propriétaires qui ajoutent à la précision de l'actif. Les algorithmes aident le modèle à différencier les différents défauts et à les séparer des valeurs normales et acceptables. L'équipement peut également mesurer la planéité et l'épaisseur des plaquettes avec une grande précision. De plus, en utilisant l'interférométrie laser avancée, le système est capable de détecter les défauts submicroniques dans la taille. P-15 a un rythme de cycle extrêmement rapide d'une seconde, ce qui lui permet de gérer des lignes de production à haut débit. Cette unité comporte deux étages montés sur portique et est capable de fonctionner sur 24 automates différents en même temps, donnant une flexibilité accrue. Cette capacité à haut débit ainsi que sa capacité à détecter les défauts ultra-petits font de TENCOR P15 un choix idéal pour les besoins complexes de test de plaquettes. KLA P 15 utilise une variété d'outils de métrologie, y compris l'imagerie CCD, la réflectométrie optique, les méthodes de spectroscopie multiple et l'imagerie AFM. Cela permet à la machine d'analyser différentes caractéristiques telles que la taille et la forme des grains, la rugosité de surface et la composition, ce qui la rend idéale pour une gamme de besoins de test de plaquettes. L'UCK P15 fournit également une analyse précise des données. L'outil comprend des algorithmes avancés de classification des défauts basés sur des modèles (MODCAL) qui détectent et classent automatiquement les défauts en fonction de leurs caractéristiques. Cela permet de réduire les faux positifs, ce qui facilite l'interprétation des données par les professionnels et la prise de décisions intelligentes en toute confiance. En conclusion, P15 est un outil fiable et précis de test de plaquettes et de métrologie qui peut aider à assurer la fiabilité des produits avec ses capacités précises de détection et d'analyse des défauts. La capacité de débit élevée du modèle et le rythme de cycle rapide d'une seconde en font un choix idéal pour les lignes de production à haut volume, et la technologie de pointe qu'il utilise en fait l'équipement parfait pour les besoins complexes d'essai de plaquettes.