Occasion KLA / TENCOR P15 #9315026 à vendre en France
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ID: 9315026
Surface profiler
Upgraded PC: Pentium 4
LCD Monitor, 19"
Keyboard and mouse
SSD Hard Disk Drive (HDD)
L-Stylus: 2 um/60
Operating system: Windows XP
Operation manual.
KLA/TENCOR P15 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haut de gamme conçu pour fournir une grande précision de débit et d'essai. Il est basé sur un système d'imagerie trinoculaire, composé d'un champ lumineux et de deux caméras de champ sombre, et intègre une unité optique avancée Cassegrain. Cela permet de mesurer les caractéristiques des sous-microns sur les plaquettes avec un niveau de précision et de vitesse extrêmement élevé. La machine est équipée d'une caméra de haute qualité et d'un outil d'éclairage, permettant une large gamme de dynamique pour la capture d'image, afin de résoudre avec précision les anomalies de sous-microns sur les plaquettes. KLA P-15 offre également un champ de vision exceptionnel, ce qui permet un niveau d'échantillonnage plus élevé que les autres systèmes. De plus, l'actif est capable de comptabiliser très précisément les motifs et de mesurer les chevauchements, et possède une grande variété de services de mesure intégrés (SGI) qui offrent une précision et une flexibilité accrues pour les mesures complexes. TENCOR P 15 contient également des capacités de calcul avancées pour le traitement rapide d'images et l'analyse statistique, permettant une analyse de mesure approfondie. Cela comprend l'affichage d'images multidimensionnelles et multicouches, ainsi que l'analyse des zones d'intérêt (AOI). De plus, le modèle est capable d'effectuer la métrologie des plaquettes, l'analyse des défauts et les essais de rugosité de surface, afin de fournir une compréhension et une quantification complètes des propriétés des plaquettes. Enfin, P 15 propose des outils matériels tels que le Stepper Correlometer, la reconnaissance automatisée des défauts et les groupes électrogènes, le Dye Cone Correlometer et le Equipment Level Defect Analysis (SLDA) pour l'analyse rapide des défauts. En outre, le système offre des fonctionnalités logicielles telles que Mesures EQ, qui est une interface graphique pour la mise en place, la surveillance et le contrôle des tests, ainsi que l'analyse graphique, qui fournit une analyse détaillée des résultats en format graphique. Ensemble, ces fonctionnalités permettent un niveau de contrôle, de précision et de vitesse des processus plus élevé que jamais.
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