Occasion KLA / TENCOR P15 #9315027 à vendre en France

L'équipement KLA/TENCOR P15 d'essai de plaquettes et de métrologie est conçu pour des essais et des inspections rapides, efficaces et automatisés des matériaux et produits semi-conducteurs. Grâce à une solution d'inspection optique automatisée, le système est capable de détecter des défauts potentiels, tels que des micro-fissures, des particules et d'autres défauts. KLA P-15 intègre des technologies spéciales d'imagerie, d'éclairage et d'analyse pour capturer rapidement les images des surfaces des plaquettes et les analyser. L'unité comprend des algorithmes propriétaires de reconnaissance de caractéristiques qui aident à identifier et à mesurer les caractéristiques objectives difficiles à détecter. En outre, TENCOR P 15 intègre une suite d'outils de métrologie de précision et de mesures avancées. Ces outils permettent une mesure précise et précise de la topographie, des dimensions et des autres propriétés des matériaux, tels que la planéité et le profil. Ces mesures sont essentielles pour maintenir les exigences dimensionnelles précises nécessaires au succès dans l'industrie des semi-conducteurs. En outre, P15 est composé de capteurs de haute précision, qui capturent des données précises des profils de surface des plaquettes. Cela permet de mesurer avec précision les dimensions des caractéristiques, les distances, la topographie de surface et de nombreuses autres caractéristiques de surface. P-15 fournit également des outils logiciels puissants pour analyser, trier et rendre compte des résultats. Les capacités d'analyse du logiciel permettent une classification détaillée des défauts, une inspection des données et des rapports de synthèse statistique. La machine est capable de stocker, d'analyser et de rapporter de grandes quantités de données. Les capacités de reporting permettent aux utilisateurs de présenter l'information au client de manière significative. KLA/TENCOR P 15 fournit des capacités automatisées de tri, de déclaration et de gestion des défauts, qui permettent d'accroître l'efficacité des inspections tout en réduisant les coûts de gestion des données. En outre, TENCOR P-15 comprend une connexion à l'outil de gestion des défauts en ligne de l'UCK. Cela permet aux utilisateurs d'accéder aux données défectueuses à distance, de partager et de collaborer sur les données en toute sécurité. Au total, KLA P15 wafer testing and metrology asset est un outil intégré pour mesurer, inspecter et analyser les matériaux et produits semi-conducteurs. Avec de puissantes technologies d'imagerie, des outils de métrologie, de l'analyse et des capacités de rapport, KLA P 15 offre aux utilisateurs une solution fiable et efficace à leurs besoins de test de plaquettes.