Occasion KLA / TENCOR P15 #9315028 à vendre en France
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ID: 9315028
Surface profiler
Upgraded PC: Pentium 4
LCD Monitor, 19"
Keyboard and mouse
SSD Hard Disk Drive (HDD)
L-Stylus: 2 um/60
Operating system: Windows XP
Operation manual.
KLA/TENCOR P15 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des données très précises et fiables. Ce système est idéal pour le développement de produits, la recherche et le développement, l'analyse des défaillances, le contrôle des processus et les applications de développement de processus. Il s'agit d'une unité entièrement automatisée et multifonctionnelle, spécialement conçue pour les tests, l'analyse et la caractérisation des plaquettes semi-conductrices. La machine KLA P-15 intègre plusieurs technologies afin de fournir rapidement des informations complètes et précises. Il est équipé d'algorithmes avancés d'analyse d'image et de reconnaissance de motifs en temps réel pour faciliter la classification rapide des matériaux, les défauts et les mesures de dimensions critiques avec précision. De plus, il combine des capacités de métrologie optique, électrique et acoustique pour caractériser avec précision les caractéristiques des appareils, ainsi que les matériaux et paramètres des wafers et des circuits. L'outil dispose d'une capacité fiable de détection des défauts avec une grande précision pour répondre aux exigences strictes des essais de production et des applications de recherche et développement. Il utilise de multiples outils d'analyse, dont la microscopie, la microscopie électronique tunnel (TEM), la microscopie acoustique à balayage et la spectroscopie en deux étapes. En outre, l'actif a une gamme dynamique pour l'imagerie haute résolution, permettant de détecter même le plus petit défaut. En outre, TENCOR P 15 fournit également une inspection très fiable des bords de motifs, ainsi que des mesures de croissance précises des structures de motifs doubles. Le modèle comprend un PC haut de gamme avec un moniteur tactile de 21 pouces et un processeur multiprocesseur pour soutenir des temps de test et d'analyse plus rapides des plaquettes. Il intègre également divers processus robotiques et automatisés pour minimiser le temps de mise en œuvre, réduire les erreurs manuelles et fournir des données efficacement. P 15 comprend également une gamme de programmes d'analyse d'images, de logiciels et de traitement de données. Il a la capacité d'effectuer une variété de procédés, y compris la mesure de l'épaisseur du film à tonalité positive et à tonalité négative, l'analyse de diffusion optique, l'analyse de la composition des alliages, la vérification de l'enregistrement couche par couche et l'analyse de micro-structures. En outre, l'équipement fournit une série de fonctionnalités, telles que le contrôle statistique des processus, l'analyse des causes profondes, la gestion du rendement et l'identification des défauts pour une assurance de la qualité supplémentaire. En résumé, le système TENCOR P15 offre une solution économique pour des applications de contrôle de processus, de vérification ou d'analyse des défaillances de grande valeur, car il offre une variété de capacités de test et de métrologie automatisées et fiables. Elle peut apporter une amélioration substantielle à la caractérisation des plaquettes, à l'assurance de la qualité et à la gestion du rendement.
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