Occasion KLA / TENCOR P15 #9401373 à vendre en France

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ID: 9401373
Surface profiler Keyboard Trackball COSTAR 2122/1000/000 Camera ACER Computer monitor HDMI / VGA Cables Computer Computer is missing faceplate MicroHead IIsr 401994: Vertical range: 327 m Scanning forces: 1 mg - 50 mg Vertical range (m) / Resolution (Å): ± 6.5 (13 Total) / 0.008 ± 32 (64 Total) / 0.04 ± 173 (327 Total) / 0.2 Operating system: Windows NT Workshop Power supply: 100 V, 4 A, Single phase, 50 Hz.
KLA/TENCOR P15 est un équipement intégré d'essai de plaquettes et de métrologie conçu par les principaux fabricants, KLA Corporation, pour fournir des performances significativement améliorées dans la fabrication de circuits intégrés semi-conducteurs avancés, ainsi que des rendements de fabrication accrus. Ce système a été conçu pour fournir une analyse automatisée d'une grande variété de plaquettes intégrées, y compris celles trouvées dans la mémoire, la logique, l'optique et d'autres structures complexes. L'unité tire parti de l'utilisation efficace de l'interférométrie laser de haute précision, de l'imagerie par défaut et de l'analyse avancée des défauts. Sa plate-forme commercialisée comprend un microscope optique, un microscope interférométrique, une machine automatisée d'inspection et d'alignement des plaquettes, et une gamme de modules de métrologie avancés, y compris ceux axés sur l'analyse et les variations du rendement au niveau de la matrice et de la plaquette. L'outil est conçu pour fournir une capture de données précises à partir d'une grande variété de surfaces de plaquettes au niveau de la puce. KLA P-15 offre un ensemble complet de tests, d'alignement, d'inspection et d'analyse des défauts, ainsi que de mesures de précision. Cet atout fournit un haut degré de précision et de répétabilité (avec une répétabilité supérieure à 0,1 um) pour tous les types de circuits et de processus intégrés. Le modèle est utilisé pour l'inspection optique et interférométrique automatisée, y compris la génération d'images à haute résolution et la mesure des dimensions de surface. Il a également la capacité d'effectuer l'inspection automatisée des défauts au niveau de la matrice et l'analyse du rendement, ainsi que la surveillance du rendement au niveau de la plaquette. De plus, l'équipement est capable d'effectuer un alignement automatisé de la plaquette à l'essai, permettant de mesurer avec précision la position relative de la matrice et de la puce. Cela permet de s'assurer que toutes les parties de la plaquette sont régulièrement testées et évaluées avec précision. TENCOR P 15 fournit en fin de compte une série unique d'outils avancés pour l'analyse et l'évaluation des données. Cela inclut la sortie de résultats détaillés, permettant aux utilisateurs d'effectuer une analyse précise des défaillances et de mieux comprendre la cause profonde des défauts. Le système a connu un grand succès en fournissant un contrôle de la qualité et en augmentant les rendements de fabrication dans une variété de processus de circuits intégrés. Il a été utilisé par des industries telles que la médecine, l'armée, les communications et l'automobile. En conséquence, TENCOR est devenu l'étalon-or dans les essais de plaquettes et la métrologie.
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