Occasion KLA / TENCOR P16+ #293778035 à vendre en France

KLA/TENCOR P16 + est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haut de gamme conçu pour un contrôle optimal des processus et une rampe à rendement rapide. Il fournit des capacités paramétriques de test et de cartographie au niveau des plaquettes tout en permettant une métrologie de précision basée sur la technologie d'imagerie CCD à double couche. Le système est équipé d'algorithmes avancés de traitement d'image et d'un large éventail de fonctionnalités pour assurer une analyse précise et fiable. KLA P 16 + intègre une gamme de technologies d'essai, y compris l'inspection optique, les essais de circuits intégrés, les essais paramétriques, les essais hybrides et les essais partiels de plaquettes. Il est également équipé d'une carte de rendement auto-focus pour garantir la précision et la fiabilité tout en cartographiant efficacement les variations d'épaisseur du substrat, les surfaces inégales et d'autres caractéristiques de surface. Cette unité d'auto-focalisation fournit également l'alignement mécanique, la métrologie optique et l'inspection des caractéristiques telles que les fissures, les rayures et les particules. La machine TENCOR P-16 + comprend une caméra CCD haute performance, un outil d'éclairage avancé et des têtes d'éclairage multi-composants. L'actif d'éclairage comprend des projecteurs, des lasers à balayage de ligne, et une variété de techniques d'éclairage avancées pour fournir une cartographie exacte des caractéristiques sur la plaquette. Les capacités logicielles intégrées permettent l'alignement automatique, la cartographie, la détection des défauts et la classification. P 16 + offre un ensemble de test de plaquettes de haute précision qui peut être personnalisé en fonction des besoins du client. Avec l'ajout de différents modules de test, le modèle fournit des tests complets de toutes les couches d'interconnexions définies par le client sur une seule plaquette. Cela comprend l'imagerie visuelle et la métrologie de la face arrière de la plaquette et les fonctionnalités propres à l'application, telles que la métrologie des particules, les essais de matrices multiples, le traitement optique de micro-images et la mesure de profondeur de gravure. Avec l'équipement KLA P16 +, les utilisateurs peuvent facilement configurer les paramètres de test, effectuer l'étalonnage à la volée et visualiser les données de test, le tout via un panneau de contrôle centralisé. Le système TENCOR P16 + offre également une fonctionnalité complète de contrôle des processus, permettant aux opérateurs de suivre et de suivre facilement les tendances des performances des plaquettes. L'unité permet d'assurer un rendement et une qualité optimaux des plaquettes en assurant un contrôle avancé des processus, une surveillance en temps réel et une rétroaction rapide des tests. Toutes ces fonctionnalités se combinent pour s'assurer que les clients reçoivent la meilleure wafer test et machine de métrologie disponible.