Occasion KLA / TENCOR P16+ #293815639 à vendre en France

L'équipement KLA/TENCOR P16 + est un système automatisé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des solutions complètes de métrologie pour l'industrie des semi-conducteurs. Il utilise des algorithmes avancés et une technologie de détection exclusive pour mesurer et analyser les plaquettes rapidement et avec précision. KLA P 16 + peut être utilisé pour mesurer l'épaisseur, l'analyse des défaillances et la topographie des plaquettes et autres substrats dont l'épaisseur varie entre 0,8 et 32 microns. L'unité peut également être configurée pour différents niveaux de tests optiques, y compris la surveillance des processus et l'analyse détaillée des défauts. TENCOR P-16 + est équipé d'une machine de contrôle optique sophistiquée avec un illuminateur laser multi-longueurs d'onde, qui peut être utilisé pour une variété de tests, tels que des mesures de réflexion et d'indice de réfraction. L'optique multi-longueurs d'onde unique permet à l'outil de réaliser au-delà des tests de qualification traçables NIST. L'actif utilise également une tête de sonde modulaire avec des lentilles interchangeables et des plaques d'étage pour l'échantillonnage et la mesure de haute précision. KLA P-16 + est également capable de capter une large gamme de signaux électriques de test dans un format analogique ou numérique. Cette fonction entrelacée permet la caractérisation des tests, la surveillance des processus et l'analyse des défauts. En outre, le modèle comprend des logiciels embarqués sophistiqués et de puissants logiciels d'analyse pour faciliter la saisie et l'analyse des données. L'équipement KLA/TENCOR P-16 + est disponible dans une variété de configurations en fonction des besoins et du budget des utilisateurs. Le système KLA/TENCOR P 16 + comprend une unité de cartographie automatisée des plaquettes pour mesurer avec précision sur chaque surface des plaquettes jusqu'à 3 000 000 de points. Il est également équipé d'une machine d'imagerie transversale innovante qui permet à l'utilisateur d'analyser avec précision les structures tridimensionnelles des objets numérisés. Dans l'ensemble, KLA P16 + Wafer Testing and Metrology Tool offre des performances et une précision supérieures pour tous les types d'applications de production et de recherche. Son actif d'inspection optique avancé, son modèle de cartographie automatisée des plaquettes et son logiciel d'analyse puissant en font un choix idéal pour les producteurs de semi-conducteurs et les chercheurs.