Occasion KLA / TENCOR P17 OF #293666751 à vendre en France

KLA/TENCOR P17 OF wafer testing and metrology equipment est un système de métrologie haut de gamme utilisé pour l'inspection des substrats de wafer utilisés dans l'industrie des semi-conducteurs. L'unité utilise une combinaison de techniques avancées d'évaluation et de métrologie, y compris l'imagerie plein champ, l'examen automatisé des défauts et l'analyse ciblée des faisceaux d'ions pour fournir une vue détaillée et complète des substrats des wafers. La machine KLA P17 OF se compose de plusieurs modules dont un sous-système de balayage optique infrarouge, un outil de caméra de 5 mégapixels et une colonne ionique à haut rendement et faible puissance. L'actif de balayage optique infrarouge permet l'imagerie plein champ, fournissant une image détaillée et haute résolution de l'ensemble de la plaquette. Le modèle de caméra permet l'examen automatisé des défauts, fournissant un examen rapide et reproductible des défauts liés au processus sur la plaquette. La colonne de faisceau d'ions fournit une analyse inégalée des régions localisées d'intérêt sur la plaquette pour une évaluation plus approfondie des défauts liés au processus. En plus des composants d'imagerie et de métrologie, TENCOR P17 OF comprend également un équipement automatisé de mise en scène des plaquettes qui offre un processus de préparation et de manipulation des plaquettes hautement configurable. Le système de mise en scène permet un positionnement précis et répétable de la plaquette et un alignement automatisé avec les composants d'imagerie et de métrologie. P17 OF est conçu avec une unité de capture, de traitement et d'affichage d'images entièrement intégrée, offrant aux opérateurs une interface graphique facile à utiliser. L'interface utilisateur intuitive offre aux opérateurs une vue complète de tous les domaines des opérations de métrologie. La machine peut stocker les données des précédents essais, ce qui permet aux opérateurs de se rappeler rapidement et d'analyser les essais aux fins d'analyse et de comparaison. KLA/TENCOR P17 OF est conçu pour répondre aux exigences des dernières technologies de procédés semi-conducteurs et offre des performances et des capacités de mesure de pointe. L'outil est idéal pour masquer le développement de processus, le contrôle de processus et les applications d'assurance de la qualité. L'actif fournit une précision et une fiabilité inégalées, fournissant une assurance de fiabilité aux ingénieurs de processus semi-conducteurs dans les nœuds technologiques les plus avancés.