Occasion KLA / TENCOR P17 #293814734 à vendre en France

ID: 293814734
Style Vintage: 2016
Surface profilers.
KLA/TENCOR P17 est un équipement de test et de métrologie de plaquettes haute performance, construit sur une plate-forme robuste et flexible pour accueillir une large gamme de dispositifs semi-conducteurs. Ce système utilise des algorithmes avancés d'optique et de métrologie pour fournir des résultats précis et précis, permettant aux ingénieurs de mesurer, traiter et analyser les données rapidement et avec précision. L'unité KLA P-17 est équipée de composants de pointe, dont une grande caméra CCD 6 couleurs avec haute résolution, un écran à cristaux liquides (LCD) de haute qualité pour la visualisation, un spectromètre mobile et un comparateur optique. Cette configuration permet des essais de plaquettes complets et des capacités de métrologie, y compris la classification des défauts, l'identification des particules, l'inspection de surface, la mesure de la largeur des lignes et les mesures d'épaisseur. La caméra haute résolution de TENCOR P 17 lui permet de capturer des images microscopiques de plaquettes avec beaucoup de détails, permettant aux ingénieurs d'analyser des pixels individuels pour les caractéristiques de surface et les défauts. Grâce à l'utilisation d'algorithmes, les ingénieurs peuvent mesurer avec précision des caractéristiques telles que la largeur des lignes et la topographie de surface. La présence de différents types de défauts peut également être déterminée par la détection automatisée de particules, qui sont séparées et identifiées selon la taille, la forme et la position. En plus de ce noyau de capacités, KLA/TENCOR P-17 offre également une variété de fonctionnalités supplémentaires, telles que les capacités d'analyse et de déclaration des données, le contrôle statistique des processus et l'inspection automatisée des défauts. Cette machine multifonctionnelle est capable de capturer, de traiter et d'analyser des données provenant de divers substrats, dont des plaquettes de silicium, des dispositifs MEM et d'autres circuits intégrés. Dans l'ensemble, l'outil KLA P17 est un outil puissant et fiable qui fournit une grande précision et fiabilité à un prix abordable. Il peut être utilisé pour mesurer, traiter et analyser une grande variété de substrats et aider les ingénieurs à identifier et à réduire les défauts afin d'améliorer la qualité et la performance de leurs produits. Grâce à ses caractéristiques et capacités sophistiquées, l'outil de test et de métrologie des plaquettes P 17 offre une solution fiable à un défi majeur dans l'industrie des semi-conducteurs.
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