Occasion KLA / TENCOR P2 #293595754 à vendre en France

KLA/TENCOR P2 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie utilisé pour l'analyse de plaquettes semi-conductrices. C'est un système très intégré pour mesurer et évaluer les caractéristiques topographiques et électriques des plaquettes semi-conductrices. KLA P-2 comprend un capteur d'image haute vitesse pour capturer les caractéristiques topographiques de la plaquette, un processeur d'image puissant pour analyser les données capturées, et plusieurs autres capteurs pour mesurer les propriétés physiques de la plaquette, telles que sa résistivité. Le capteur d'image inclus dans TENCOR P2 est un réseau avancé de dispositifs à couplage de charge (CCD) capables de capturer de grandes zones de la surface de la plaquette. Le grand format permet la collecte de plus de points de données à travers la plaquette et assure que les points de données sont collectés plus rapidement. Le processeur d'image est capable d'analyser rapidement et précisément les données d'image capturées, d'identifier les défauts et de créer une carte topographique détaillée de la surface de la plaquette. Le processeur fournit également des capacités de métrologie, en calculant divers paramètres de performance de la plaquette tels que sa tension, sa résistivité et son épaisseur. Outre le capteur d'image et le processeur, P-2 comprend un ensemble de capteurs spécialisés pour mesurer diverses propriétés électriques et physiques de la plaquette. Il s'agit notamment du capteur VFET KLA, d'un testeur de performance électrique avancé, du scanner de garde du périmètre, d'un scanner de carte de résistance au contact et de l'unité de sonde, un ensemble de sondes pour mesurer des propriétés telles que la résistivité, la planéité et l'uniformité de surface. KLA P2 comprend également une machine de vision pour l'inspection visuelle des plaquettes. P2 est hautement automatisé et capable d'accomplir une variété de tâches en une seule session. Il permet de mesurer les performances électriques telles que la tension, le courant, la résistance, la capacité et l'inductance. L'outil a également la capacité de mesurer et d'analyser le profil, l'épaisseur et la qualité de surface de la plaquette, ainsi que sa planéité et son uniformité de surface. L'étendue des caractéristiques et des fonctionnalités offertes par KLA/TENCOR P-2 en font un outil inestimable pour l'analyse et l'évaluation des plaquettes semi-conductrices. Sa nature hautement automatisée permet de mesurer et d'évaluer rapidement les caractéristiques électriques et physiques de la plaquette. Les données collectées par P2 peuvent alors être utilisées pour prendre des décisions stratégiques et créer des changements de processus qui amélioreront la fabrication des semi-conducteurs.