Occasion KLA / TENCOR P2 #9005127 à vendre en France

KLA/TENCOR P2 est un équipement avancé d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour l'examen de la métrologie et des défauts de plaquettes. Il utilise la technologie la plus récente pour inspecter et analyser les plaquettes pour détecter les défauts, mesurer les paramètres électriques, optiques et autres paramètres physiques pour une large gamme de semi-conducteurs et d'autres matériaux. Le système comprend trois composants : une unité d'ordinateur central, une plaque prober et un laser excimère. L'ordinateur central se compose d'un étage de microscope optique, d'un étage de prober automatisé et d'un gestionnaire de plaquettes. Il peut être utilisé pour effectuer des analyses avec une gamme de techniques d'imagerie à haute résolution, y compris l'ellipsométrie, la microscopie lumineuse polarisée, l'analyse de surface, la spectroscopie d'absorption et l'imagerie. Ces techniques sont utilisées pour mesurer les couches de matériau, les fuites de courant, l'épaisseur des couches, la résistivité, la rugosité de surface et les propriétés optiques. Le distributeur de plaquettes est utilisé pour entrer en contact avec une plaquette et effectuer divers tests. La tête de sonde contient un réseau de sondes miniatures qui touchent la surface de la plaquette. Cela permet au contact avec la plaquette de mesurer des paramètres électriques tels que la résistance, la capacité et l'inductance. Les sondes mesurent également le potentiel d'un circuit, le flux de courant à travers la plaquette et contrôlent les chutes de tension. Toutes ces informations sont utilisées dans l'analyse des défauts. Le laser excimère est utilisé pour graver un motif dans le matériau à inspecter. Ce faisceau laser est utilisé pour créer des caractéristiques de microcircuit avec un degré élevé de précision et de précision. Le faisceau laser peut créer de minuscules motifs sur le matériau avec des niveaux de précision supérieurs à 1 micron. Le faisceau laser peut également être utilisé pour détecter des défauts sur le matériau qui ne peuvent pas être détectés à l'aide d'un microscope standard. KLA P-2 est un outil d'essai et de métrologie de plaquettes puissant et fiable qui fournit des résultats précis et fiables. L'actif est idéal pour mesurer les paramètres électriques, optiques et autres paramètres physiques des semi-conducteurs et d'autres matériaux et peut être utilisé pour détecter les défauts dans le matériau. Il est largement utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour assurer la qualité des matériaux utilisés dans le processus de fabrication.