Occasion KLA / TENCOR P2 #9007474 à vendre en France

KLA/TENCOR P2 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour une variété de procédés de semi-conducteurs et d'applications d'inspection des défauts. Le système fournit une solution complète d'analyse de défaillance avec la meilleure précision disponible. Il est capable de scanner toute la surface de la plaquette avec une haute résolution et précision. L'unité est alimentée par une technologie exclusive de traitement d'images spectrales KLA, qui lui permet de détecter et de caractériser les défauts liés au processus et au produit. La puissance de traitement de la machine lui permet de balayer toute la surface de la plaquette en quelques minutes. Il intègre des algorithmes propriétaires conçus pour améliorer le traitement de l'image et la précision et la vitesse de caractérisation des défauts. L'outil dispose également d'un logiciel intégré avancé comprenant la caractérisation des artefact, la priorisation des défauts, l'analyse statistique des défaillances et les capacités de tendance des défauts. L'actif dispose d'outils intégrés pour gérer et analyser jusqu'à 200k défauts de produit par heure avec de faibles taux de faux positifs et de faux négatifs. Le modèle est également conçu pour permettre aux utilisateurs de passer facilement entre les modes d'inspection, leur permettant d'optimiser son utilisation pour différents processus et applications. L'équipement intègre également la technologie brevetée TENCOR KORE™ qui fournit l'imagerie d'images spectrales à haute résolution. Il capture des images de toute la surface et fournit une analyse détaillée des paramètres optiques tels que les dimensions critiques (CD) et la rugosité de bord de ligne (LER). Le système comprend également un logiciel de métrologie optique puissant, donnant aux opérateurs une capacité sans précédent de caractériser avec précision les petits défauts tels que les particules, les dislocations, les hillocks et autres caractéristiques de topologie de ligne optique et de surface. L'unité offre également une gamme complète d'outils de classification automatique des défauts et d'analyse de la taille des défauts pour une caractérisation efficace et cohérente des défauts. En outre, la machine est conçue pour une intégration facile dans les systèmes de métrologie existants, permettant aux utilisateurs d'acquérir des données à partir de diverses sources. KLA P-2 est un outil incroyablement puissant pour l'inspection des défauts et les tests de plaquettes. Sa capacité à fournir des mesures de haute précision et précises des paramètres de défaut lui donne le bord au-dessus des méthodes traditionnelles d'essai des plaquettes. Avec ses capacités globales et ses technologies innovantes, l'outil est un outil incontournable pour toute fonderie semi-conductrice ou environnement de production.