Occasion KLA / TENCOR P2 #9217450 à vendre en France

KLA/TENCOR P2 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour l'inspection et l'analyse avancées des plaquettes de semi-conducteurs. Il fournit des capacités fiables de contrôle de processus et de détection de défauts de classe mondiale. KLA P-2 permet aux clients d'obtenir les meilleurs rendements de processus possibles, la stabilité des rendements et l'optimisation du temps du cycle de processus. La plate-forme modulaire du système permet aux clients de personnaliser leurs besoins spécifiques et le produit est conçu pour une flexibilité et une évolutivité maximales, ce qui le rend idéal pour n'importe quelle tranche de taille fab. TENCOR P2 dispose d'un écran FPD haute résolution (Flat Panel Display) pour une excellente qualité d'image et une interface tactile fiable et facile à utiliser. L'unité est composée de plusieurs composants, dont une machine de déviation de faisceau (BDS), une unité d'alimentation haute tension et électronique (HVSE), une caméra de lumière blanche grand format (WLC) et un processeur d'image temps réel (RTIP). L'unité BDS est chargée de dévier le faisceau lumineux généré par l'unité HVSE de la surface de la plaquette, permettant au WLC de capturer des images de la surface de la plaquette. Le RTIP est chargé de traiter les images capturées par le WLC et de communiquer avec les autres composants de l'outil. Le WLC capture des images de haute précision de la surface de la plaquette et fournit des capacités de détection de défauts en temps réel. L'actif peut être utilisé pour identifier une gamme de défauts sur la plaquette, y compris : défauts de surface, irrégularités de surface, problèmes de planéité, contamination des particules, couches de souche, et plus encore. KLA/TENCOR P-2 prend en charge une gamme d'options de métrologie telles que les mesures optiques et électriques pour une compréhension complète de la surface de la plaquette. TENCOR P-2 est disponible avec une variété d'options, y compris un large éventail de modes d'inspection, la technologie de synchronisation des cibles, le stockage des données sur place, et des capacités avancées de traitement des données. Le modèle peut également être intégré à des systèmes tiers, permettant aux clients de tirer parti de ses fonctionnalités. En résumé, P2 est un équipement puissant et fiable d'essai de plaquettes et de métrologie. Il offre une plate-forme idéale pour la détection avancée des défauts et des rendements de processus accrus. Le système est hautement personnalisable, permettant aux clients de le configurer pour répondre à leurs besoins spécifiques. TENCOR P2 permet aux clients d'obtenir des résultats précis et fiables de tests de plaquettes et de métrologie, et est la solution idéale pour la fabrication de plaquettes semi-conductrices.