Occasion KLA / TENCOR P2 #9224719 à vendre en France

KLA/TENCOR P2 est un système d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir des capacités de métrologie et d'essai de pointe à l'industrie des semi-conducteurs. Le système prend en charge les principaux processus de fabrication des plaquettes, y compris la fixation de la matrice, la lithographie, le revêtement diélectrique, la résistance aux couches/développement et le collage de la matrice. Il permet également un contrôle avancé des processus, la prévention des défauts et la gestion des rendements, en tirant parti des capacités de métrologie optique, thermique et électrique à grande vitesse. KLA P-2 se compose d'une suite de sondes et modules optiques, radiographiques, acoustiques et électriques sans contact qui offrent des capacités d'imagerie haute résolution et des mesures détaillées de paramètres tels que l'épaisseur de la couche, la rugosité de surface, la géométrie de l'interconnexion, les caractéristiques des transistors et la chaîne de fixation. Le CCD à rayons X permet de détecter les défauts, tandis que la sonde optique mesure les largeurs de ligne, les trous de contact et les contacts. Les sondes acoustiques et thermiques mesurent la morphologie et la localisation des micropompes. Le module électrique permet la caractérisation et l'optimisation des dispositifs en utilisant une variété de techniques de test et d'analyse électriques. TENCOR P 2 est conçu pour gérer toutes les grandes étapes de la fabrication des appareils, y compris l'inspection des défauts, la métrologie, l'assurance des procédés et le contrôle des procédés. Sa haute résolution et sa précision permettent un contrôle précis des tailles et des formes des caractéristiques, garantissant que les appareils répondent aux spécifications de qualité. Ses capacités d'imagerie et d'analyse de données à grande vitesse permettent de suivre et d'évaluer en temps réel les étapes de fabrication des appareils, de soutenir l'optimisation des processus et de permettre une montée en puissance plus rapide des nouveaux procédés et dispositifs. Des outils avancés d'optimisation et de gestion des données permettent de générer efficacement des décisions fondées sur les données. KLA P 2 comprend également des fonctions automatiques de contrôle de processus en plein champ et de contrôle de processus adaptatif (APC) qui permettent aux utilisateurs de manipuler leur processus en temps réel. Les utilisateurs peuvent réagir rapidement aux métriques de processus critiques et aux données de rendement non critiques afin d'améliorer les rendements des produits. Globalement, KLA P2 est un outil puissant et fiable pour l'industrie des semi-conducteurs. Avec ses sondes optiques, radiographiques, acoustiques et électriques à haute résolution, associées à des capacités avancées d'optimisation et de gestion des données, TENCOR P2 fournit le contrôle avancé des processus, la prévention des défauts et la gestion des rendements nécessaires pour les applications actuelles de haut volume et de haute précision.