Occasion KLA / TENCOR P2 #9226183 à vendre en France

KLA/TENCOR P2 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système de pointe qui permet des mesures et une métrologie précises et cohérentes des wafers semi-conducteurs. Il comprend une unité de vision, un logiciel intégré de métrologie et d'analyse, une mesure automatisée des contacts et un support intégré du cycle par lots. La machine est idéale pour le contrôle des processus et de la qualité, la cartographie des plaquettes et les opérations RMA (Return Merchandise Authorization). L'outil de vision KLA P-2 utilise des caméras puissantes configurées pour capturer des images haute résolution sur l'ensemble de la plaquette. Les mesures de l'actif sont précises et répétables, avec un alignement d'image minimal requis. Il peut capturer jusqu'à 16 plaquettes par minute pour un débit maximum et peut identifier le début de chaque plaquette ou mesurer des anneaux pleins en une étape. Le logiciel intégré de métrologie et d'analyse du modèle est efficace et convivial. Il collecte, stocke et transmet des données tout au long du processus. Le logiciel dispose d'algorithmes d'analyse de données puissants pour optimiser les processus de production et améliorer le rendement. En outre, il peut trouver et diagnostiquer des défauts matériels, prédire les performances et afficher des métriques au niveau des lots. La mesure de contact automatisée sur TENCOR P2 est une autre caractéristique clé. Son balayage sans contact à grande vitesse peut faire des mesures simultanées sur plusieurs plaquettes avec un seul balayage. Il est également capable de mesurer des surfaces non planes précises, des mesures de ponts sur de petites caractéristiques et des mesures obliques dans les directions horizontale et verticale. Enfin, l'équipement KLA P2 Wafer Testing and Metrology Equipment comprend un soutien intégré du cycle des lots pour rationaliser la production et réduire au minimum les déchets. Il est ainsi plus facile d'automatiser les processus sur plusieurs machines, de contrôler la répétabilité, de gérer un lot de plaquettes et de suivre les parties traversant chaque plaquette. Dans l'ensemble, P2 Wafer Testing and Metrology System est une solution complète et fiable pour les essais et la métrologie des plaquettes semi-conductrices. Il est équipé d'une unité de vision sophistiquée, d'un logiciel intégré de métrologie et d'analyse, d'une mesure automatisée des contacts et d'un soutien intégré du cycle des lots qui aideront les organisations à satisfaire à leurs exigences en matière d'essais de plaquettes et de métrologie.