Occasion KLA / TENCOR P2 #9252431 à vendre en France

KLA/TENCOR P2 est un équipement sophistiqué d'essai de plaquettes et de métrologie qui permet de caractériser et de visualiser les propriétés physiques d'une plaquette. Ce système a la capacité de mesurer les images de lumière et de champ sombre, fournissant des vues détaillées de la topographie de la plaquette sur une large gamme de grossissements. Il a également la capacité d'analyser à la fois la force atomique et la dimension critique, ainsi que le niveau de défaut particulaire. KLA P-2 comprend également une chambre combinée microscope/microscope électronique à balayage (SEM) pour des inspections à haute résolution et à haute sensibilité. L'unité comprend deux processus primaires de métrologie, la microscopie à balayage photonique (PSTM) et la détection automatisée des défauts de forme (ASDD). PSTM permet l'analyse la plus précise de la topologie de surface à l'aide d'une combinaison de courants électriques tunnel de la surface du substrat et du faisceau laser émis par l'optique d'immersion. Ceci donne également au microscope la défection la plus haute résolution pour l'imagerie la plus précise. D'autre part, les processus ASDD permettent une détection automatisée à grande vitesse des défauts sur les zones sombres et lumineuses. Il est capable de détecter des défauts de forme et de ligament pour les grandes et les petites caractéristiques. L'homogénéité inégalée de l'éclairage en mode champ sombre de TENCOR P2 inhibe la fuite du signal de fond sur la plaquette, assurant le débit de détection le plus élevé et le contraste d'image le plus élevé possible. Il dispose également de capacités de cartographie 4x à 128x ainsi que de mesures MTF pour permettre la caractérisation la plus précise de la plaquette. De plus, en tant que machine moderne de test et de métrologie de plaquettes, KLA/TENCOR P2 a la capacité d'effectuer une mesure d'épaisseur sans affecter les caractéristiques électriques du dispositif. De plus, l'outil comprend une interface utilisateur ergonomique (IUE). L'IUE permet une conversion et une analyse des données plus faciles et automatisées, ainsi qu'un fonctionnement et un contrôle simplifiés des équipements. En outre, TENCOR P-2 dispose d'un certain nombre d'outils intégrés conçus pour aider à l'analyse efficace de la plaquette et de ses composants. Les plus importants sont l'autofocus, la couture des plaquettes, la reconnaissance des particules, ainsi que les algorithmes de classification des défauts. TENCOR P2 est un système d'essai et de métrologie de plaquettes de première classe dans l'industrie des semi-conducteurs. Sa combinaison de capacités supérieures de mesure et de détection, de conversion et d'analyse automatisées des données et de gamme d'outils de contrôle puissants, permet aux utilisateurs de visualiser, d'inspecter et d'analyser leurs plaquettes avec la plus grande précision et précision.