Occasion KLA / TENCOR P2 #9281925 à vendre en France

KLA/TENCOR P2 Wafer Testing and Metrology Equipment est un microscope électronique à balayage automatisé (SEM) spécialement conçu pour la fabrication et l'essai d'IC. Le système est capable d'imiter des caractéristiques nanométriques sur des plaquettes de substrat et de mourir en ce qui concerne la qualité, l'uniformité et la cohérence. Le KLA P-2 est conçu spécifiquement pour le contrôle de processus à tolérance serrée et l'analyse systématique des défauts, et dispose des performances les plus robustes, fiables et reproductibles. TENCOR P2 dispose des composants optiques et électroniques nécessaires pour analyser rapidement et avec précision un grand nombre d'appareils dans les applications industrielles des plaquettes et des matrices. P-2 peut acquérir des images, des mesures et des comptages en contexte et au niveau de la matrice avec une précision et une répétabilité élevées. L'électronique WaferSense® est intégrée dans les mécanismes internes de TENCOR P2 et permet de régler et d'étalonner automatiquement les conditions de test avant l'imagerie. Cela permet d'éliminer l'erreur humaine et d'améliorer considérablement la résolution et la précision des tests. Il augmente également la vitesse à laquelle les plaquettes et la filière peuvent être testées, car les tests peuvent être terminés en quelques minutes. KLA/TENCOR P-2 est également équipé d'un détecteur d'imagerie innovant qui fournit une clarté d'image supérieure et un rapport signal sur bruit. Ce détecteur CCD de pointe ajuste automatiquement les paramètres de l'image, ce qui permet une meilleure résolution et un plus grand contraste entre les différentes caractéristiques du dispositif. L'unité est également capable de construire des recettes semi-automatisées et automatiques pour les tâches d'inspection et de mesure. Cela aide à éliminer la programmation manuelle et les erreurs humaines associées aux recettes de codage manuel. KLA P2 stocke également toutes les données acquises, qui peuvent être facilement récupérées et analysées aux fins de comparaison. Bref, la machine KLA P 2 est un outil puissant, fiable et précis de microscopie électronique à balayage automatique. Il est conçu pour un contrôle rigoureux des processus de tolérance et une analyse systématique des défauts dans un large éventail d'applications de fabrication et de test d'IC, et dispose des capacités d'imagerie et de mesure les plus récentes. Son électronique WaferSense et ses capacités d'éclairage avancées garantissent une résolution et une précision imbattables, tandis que la fonction de recette automatisée prend silencieusement le contrôle complet de l'actif. P2 est donc un outil idéal pour optimiser le rendement du dispositif et l'assurance qualité dans l'industrie des semi-conducteurs.