Occasion KLA / TENCOR P2 #9284967 à vendre en France

L'équipement KLA/TENCOR P2 Wafer Testing and Metrology est une solution métrologique polyvalente et complète pour le placement relatif automatisé, l'alignement de la base de données, l'inspection d'images, la métrologie de précision et l'analyse des caractéristiques, de la taille, de la forme et de l'orientation. Ce système est conçu pour être utilisé dans des environnements de production et de recherche dans les industries des semi-conducteurs, des écrans plats et des systèmes micro-électromécaniques (MEMS). KLA P-2 est composé d'un certain nombre de composants qui travaillent ensemble pour permettre des essais fiables et précis et la métrologie. Il dispose d'une caméra à réseau régional et d'un contrôleur de mouvement multi-axes, qui effectuent tous deux des opérations d'alignement et de reconnaissance de haute précision. La caméra capture activement toute la surface de la plaquette et convertit les images en informations numériques. Ces données sont ensuite transférées au contrôleur de mouvement, ce qui permet un placement relatif automatisé de la plaquette sur le motif de mise en page. Le contrôleur de mouvement aligne également la disposition de la plaquette sur une base de données stockée et est utilisé pour détecter des défauts, tels que des surfaces rayées et des caractéristiques inadaptées. De plus, TENCOR P2 est intégré à une unité de métrologie optique, qui sert à mesurer la taille, la forme et l'orientation des caractéristiques des plaquettes. Cette machine utilise un réseau de lasers pour fournir des mesures précises de divers matériaux, y compris des films, des résistances, des transistors et des structures physiques. L'outil est configurable et peut être personnalisé pour mesurer différents types de formes, comme des poteaux ronds ou des surfaces effilées. En outre, il peut être utilisé pour mesurer différentes épaisseurs, telles que substrat ou indice de réfraction, et peut même mesurer à travers des objets étrangers qui pourraient être sur la plaquette. KLA/TENCOR P-2 actif dispose également d'un modèle d'alignement die-to-database, qui est utilisé pour analyser et détecter les défauts sur la plaquette pendant la production. L'équipement prend en charge l'inspection avant et arrière de la plaquette et permet un placement automatisé et complet de la matrice de la plaquette. TENCOR P2 offre également des capacités avancées de traitement d'image, telles que la détection de défauts, la réduction du bruit et la correction de couleur. KLA/TENCOR P 2 est une solution complète de test et de métrologie des plaquettes qui permet des tests et des mesures précis, précis et automatisés des caractéristiques des plaquettes. Il est spécifiquement conçu pour augmenter l'efficacité et la précision de la production et convient à un large éventail d'industries, y compris les semi-conducteurs, les écrans plats et les MEMS.