Occasion KLA / TENCOR P22H #9214889 à vendre en France

Le système KLA/TENCOR P22H est un outil puissant utilisé pour les essais de plaquettes et la métrologie. C'est un membre de la famille KLA de matériel automatisé d'inspection des plaquettes qui est utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs. KLA P22 H est capable d'inspecter et de mesurer des plaquettes de dimensions allant de 8 "à 200 mm. L'unité est équipée de 6 stations de traitement qui offrent une combinaison de capacités d'inspection et de métrologie qui comprennent optique, mécanique et électrique. La conception de TENCOR P-22H est axée sur l'offre de mesures de haut débit et de précision avec une reconnaissance et une classification avancées sur une gamme de produits. Son optique contient deux grandes caméras CCD à pleine ouverture (FFV), ainsi qu'une multitude de sources lumineuses LED et d'optiques spécialisées. P-22H fournit une capacité d'imagerie comme le champ lumineux haute résolution (BF), le champ sombre (DF), le champ lumineux multi-zone (MZBF) et le balayage de ligne. Cela permet d'inspecter de petites fonctionnalités de ratio d'aspect élevé, ce qui est un grand avantage pour de nombreuses applications. De plus, le mode d'analyse de ligne permet une inspection non destructive des réseaux déphasés programmables optiquement, des matériaux basse tension et des matériaux émergents. L'instrument est également équipé de l'architecture révolutionnaire de balayage adaptatif (ASA), un système polyvalent de reconnaissance de motifs. Cela lui permet d'inspecter avec précision les motifs des plaquettes même lorsqu'il y a des différences de ratio d'aspect causées par l'uniformité des processus. KLA P-22H fournit également une résolution de mesure impressionnante de 0,2 nm et un algorithme de mise au point intégré qui permet d'assurer une grande précision des données. Cela aide les clients à mesurer avec confiance des composants très précis sans nécessiter de réglage manuel. Le rendement et la répétabilité améliorés sont assurés par de grands moteurs qui déplacent les plaquettes d'une station à l'autre avec vitesse et précision. En fin de compte, P22 H est un système spécialement conçu pour effectuer des essais de plaquettes et de métrologie. Avec ses capacités d'imagerie et de mesure avancées et son architecture de balayage adaptatif, KLA/TENCOR P22 H offre une performance impressionnante qui répond aux besoins rigoureux de l'industrie des semi-conducteurs.