Occasion KLA / TENCOR P22H #9411708 à vendre en France

KLA/TENCOR P22H est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour l'inspection et le contrôle des processus des dispositifs semi-conducteurs. Il combine des algorithmes sophistiqués avec une technologie d'inspection automatisée très avancée pour une production de plaquettes rapide et précise. Le système KLA P22 H permet de scanner et de détecter des défauts de processus sur des substrats à motifs ou non, grâce à son spectromètre et à son microscope à haute résolution. Des sources lumineuses multiples de longueurs d'onde différentes permettent à l'unité d'appliquer diverses techniques d'inspection optique pour une meilleure détection des contaminants sur les plaquettes. Les substrats inspectés sont ensuite évalués selon des critères prédéterminés afin de détecter d'éventuelles irrégularités ou défauts sous forme de défauts lithographiques, topographiques ou de gravure, de masquage des matériaux ou de mauvais placement des caractéristiques. La machine offre également la capacité de surveiller le port cumulé de paramètres de processus critiques et assure ainsi un processus de haut niveau et la stabilité du produit. TENCOR P-22H dispose d'un autofocus multi-capteurs aérospatial 3D pour s'assurer que chaque surface de plaquette inspectée est parfaitement focalisée sur l'outil d'imagerie optique. En utilisant cet atout autofocus, il peut s'assurer que la qualité de l'image est de qualité constante, ce qui permet d'améliorer la précision et la précision des données du matériel inspecté. Le modèle fournit également des mesures rapides et précises de petites caractéristiques sur les semi-conducteurs. L'équipement d'imagerie optique de haute qualité permet une cartographie rapide des motifs sur la surface de la plaquette. Ce système est idéal pour des applications à haute résolution telles que des mesures de profondeur, de surface et de volume dans des circuits, des trous de contact, des rétrécissements de ligne et d'autres sites d'essai spéciaux. L'unité de test et de métrologie KLA/TENCOR P-22H est la solution idéale pour améliorer la qualité et réduire les coûts dans l'industrie des semi-conducteurs. En combinant des algorithmes sophistiqués avec une technologie d'inspection automatisée avancée, il offre la meilleure combinaison de précision et de vitesse pour assurer une production optimale des plaquettes.