Occasion KLA / TENCOR P2H #9241190 à vendre en France

KLA/TENCOR P2H est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour l'inspection automatique et non destructive des défauts et l'analyse de l'épaisseur des différentes plaquettes de circuit intégré de silicium (IC). Ce système avancé pour les essais de plaquettes et la métrologie utilise les technologies les plus récentes dans le matériel et les logiciels. KLA P-2H peut inspecter et analyser automatiquement les défauts de surface des plaquettes avec une grande précision, y compris ceux causés par les contaminants, les particules telles que la poussière et les motifs de traitement. Sa technologie d'inspection optique 3D intégrée est capable de détecter et de cartographier rapidement et avec précision les défauts sur la surface de la plaquette, avec une résolution inférieure à 6 microns. L'unité utilise également l'imagerie spectrale haute résolution et les mesures de fluorescence pour identifier et mesurer la contamination à la surface de la plaquette. En plus de l'inspection des défauts, TENCOR P 2H est capable de mesurer l'épaisseur de la plaquette et d'autres caractéristiques topographiques, telles que la profondeur du canal, le pas du motif, les hauteurs de crête, et d'autres. Il comprend une technologie brevetée appelée AVI (Achievement of Vertical Integration) qui aide à analyser les valeurs des plaquettes rapidement et avec précision. La boîte à outils AVI peut reconnaître une gamme de motifs de plaquettes disent jusqu'à 25 microns pour obtenir des lectures précises quasi-instantanées. Avec toutes ces caractéristiques, KLA P2H effectue des tests de surface et une métrologie ultra-rapides avec une empreinte remarquablement faible de moins de 1 mètres carrés. KLA P 2H dispose également d'une architecture logicielle Linux puissante. Il dispose d'une interface utilisateur sophistiquée pour un fonctionnement facile et fournit une saisie et une analyse complètes des données de test. Cette plate-forme logicielle sophistiquée permet la génération automatisée de rapports avec des capacités de traçabilité et d'archivage complètes. Cela signifie qu'une piste d'audit enregistrée de toutes les données d'analyse générées par la machine peut être exportée pour un examen plus approfondi et la traçabilité. KLA/TENCOR P 2 H est une solution de pointe pour l'essai de plaquettes et la métrologie qui a avancé les processus de fabrication IC. Il fournit des inspections de haute précision, non destructives et l'analyse d'uniformité des plaquettes avec une empreinte remarquablement faible et une plate-forme de contrôle logicielle avancée pour l'archivage et la traçabilité des données. Avec son objectif principal d'améliorer les rendements de production des plaquettes, KLA/TENCOR P 2H est un outil essentiel pour les fabricants d'IC modernes.