Occasion KLA / TENCOR P2H #9408171 à vendre en France

KLA/TENCOR P2H est un équipement leader d'essai et de métrologie de plaquettes spécialement conçu pour améliorer le rendement et le débit de production dans l'industrie des semi-conducteurs. Il utilise un processus tridimensionnel d'inspection visuelle automatisée pour détecter les problèmes potentiels de fabrication sur une surface de substrat. Cela permet de détecter et de corriger rapidement les défauts sur la plaquette courante, ainsi que les tendances sur la production globale. L'unité d'imagerie au microscope automatique du système KLA P-2H peut représenter et mesurer le profil des structures et des défauts sur une plaquette. En capturant des informations détaillées sur les structures et les défauts, les ingénieurs en plaquettes peuvent rapidement détecter, analyser et signaler toute anomalie. La machine permet également aux ingénieurs de visualiser plusieurs images d'inspection d'une même plaquette en permettant l'intégration avec d'autres logiciels disponibles qui peuvent fournir une seule source de données. Il propose également divers outils d'analyse personnalisés, ainsi que des affichages graphiques interactifs et des rapports. Le logiciel de mesure automatisé pour l'outil TENCOR P 2H est conçu pour mesurer et analyser rapidement ses images. Son actif de traitement automatique de l'image apprend et s'ajuste aux changements dans le substrat de la plaquette, réduisant le temps d'inspection et améliorant la précision. Le logiciel d'exploitation offre également une gamme d'options de détection de défauts, y compris Template Matching, Hot Pixel Matching, Spatial Dimension Setting et Background Estimation. Cette gamme d'options permet de détecter et de classer avec précision les défauts subtils. Le modèle P 2H fournit également des tests et des analyses basés sur les données qui mesurent et suivent la qualité de la fabrication du processeur. Grâce à ces capacités avancées, l'équipement peut identifier les améliorations du processus, mesurer les baisses de rendement et réduire les déchets générés par le flux et la conception du processus. En outre, il inclut la connectivité des données, ce qui permet le partage des données de test de wafer et d'autres numéros de production avec d'autres systèmes dans une usine. Globalement, KLA P2H est un système complet d'essai et de métrologie de plaquettes qui offre un haut niveau de performance, de précision et de fiabilité. Son processus d'inspection tridimensionnelle automatisé et sa gamme complète de caractéristiques permettent aux fabricants d'améliorer la qualité, de réduire les coûts et d'augmenter le débit de production.