Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX 6200 Surfscan #9230009 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscan est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour des environnements de production nécessitant une analyse de surface à haut débit des semi-conducteurs et des plaquettes photovoltaïques. Le système utilise l'ellipsométrie sans contact pour mesurer les propriétés optiques d'un échantillon. Il peut être utilisé pour déterminer la planéité, la réflectivité, le profil de contrainte et la rugosité de surface d'une plaquette semi-conductrice avec un logiciel de balayage sophistiqué. L'unité est composée de trois composantes : la tête d'analyse, la chambre de mesure et le noeud de calcul. La tête de balayage contient un capteur laser, et est montée sur la chambre de mesure pour fournir des mesures d'échantillons rapides et efficaces. La chambre de mesure est un environnement scellé et contrôlé par la température, qui peut être équipé de la dernière technologie d'automatisation pour permettre des mesures d'échantillons plus rapides tout en éliminant la manutention manuelle. Le noeud de calcul est un ordinateur qui est utilisé pour stocker les résultats, configurer les scans et guider le processus de mesure automatisé. La machine est équipée d'un logiciel d'analyse puissant pour l'analyse avancée et la génération de rapports. L'outil dispose d'un piquage bidirectionnel automatisé pour assurer une couverture d'analyse complète à travers le plan de balayage, permettant une grande analyse au niveau de la plaquette. KLA 6200 Surfscan asset offre une variété de techniques de mesure, y compris l'ellipsométrie à balayage de longueur d'onde (WSE), la dimension critique (CD), l'erreur de front d'onde (WFE), la caractérisation de surface et les essais non destructifs (NDT). WSE mesure la variation des propriétés optiques d'un échantillon en fonction de la longueur d'onde. Le CD est utilisé pour mesurer les caractéristiques d'un échantillon, et le WFE est utilisé pour suivre les changements de planéité de surface. La caractérisation de surface est utilisée pour déterminer les caractéristiques physiques d'un échantillon, telles que la porosité, la granulométrie et la composition. Enfin, le NDT sert à détecter les défauts et à mesurer les propriétés électriques d'un échantillon. Dans l'ensemble, TENCOR 6200 Surfscan est un modèle avancé d'essai et de métrologie de plaquettes qui offre des capacités de mesure précises pour des environnements de production et de recherche nécessitant une analyse de surface à haut débit. L'équipement est équipé d'un logiciel de numérisation sophistiqué, d'un traitement automatisé des échantillons et d'un logiciel d'analyse automatisé pour l'analyse avancée et la production de rapports. Le système offre une gamme de techniques de mesure et fournit des capacités de mesure de propriétés optiques, de caractérisation de surface et de tests non destructifs.