Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX 6420 Surfscan #293625758 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6420 Surfscan est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour détecter les défauts de surface sur les plaquettes semi-conductrices. Sa technologie brevetée Micro Scan augmente la sensibilité et la répétabilité de la détection de défauts par rapport à d'autres systèmes de détection de défauts existants. Le Surfscan est conçu pour détecter rapidement de véritables défauts microscopiques sur des couches optiques, lithographiques et FEOL avancées. Le Surfscan 6420 est équipé d'un système de vision numérique relié à une caméra haute fidélité qui est pilotée avec un étage de plaquette motorisé précis et reproductible. Le Surfscan 6420 est capable de mesurer jusqu'à deux diamètres de plaquettes en une seule passe à une résolution de 500 nm. L'unité comprend à la fois la capacité linéaire et la capacité d'inspection par balayage annulaire pour fournir une couverture de 100 % de l'ensemble de la plaquette. Le Surfscan 6420 utilise une véritable combinaison quadridimensionnelle d'imagerie par microscopie électronique à balayage (SEM) et d'imagerie par analyse d'échantillons. Cela permet au Surfscan 6420 de détecter et de quantifier un large éventail de types de défauts, y compris les décès retournés ou manquants, à des résolutions allant jusqu'à 500 nm. Le Surfscan 6420 fournit à l'utilisateur différents algorithmes pour simplifier le processus de diagnostic et de classification des défauts. Ces algorithmes permettent à la machine d'identifier les défauts présumés et de les attribuer à des « classificateurs » basés sur des critères définis par l'utilisateur. Une localisation des défauts très précise et fiable peut être obtenue grâce à des fonctions d'auto-centrage et d'alignement. L'analyse des images défectueuses est simplifiée grâce à la suite de statistiques récapitulatives et de rapports de tendance configurables par l'utilisateur de Surfscan 6420. Ces caractéristiques permettent à l'utilisateur d'identifier et de documenter rapidement les différents types de défauts qui peuvent être présents sur la plaquette. De plus, le logiciel de l'outil fournit une bibliothèque de terminologie standard de classification des défauts afin de simplifier et de rationaliser la déclaration des défauts. Le Surfscan 6420 est livré avec un logiciel complet qui fournit un contrôle de qualité automatique, post-traitement et qualification des défauts. Le logiciel offre également des fonctions intégrées de suivi SIG et d'analyse complète des données de wafer. En outre, il est conçu pour fournir des performances fiables et répétables avec un minimum de coûts de formation et d'entretien. Au total, KLA 6420 Surfscan est un outil de test et de métrologie avancé conçu pour détecter avec précision et fiabilité les défauts de surface sur les plaquettes semi-conductrices. Avec son imagerie haute fidélité, ses algorithmes configurables et son logiciel complet, le Surfscan 6420 est une solution idéale pour garantir la plus haute qualité de production.