Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX 6420 Surfscan #9133277 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6420 Surfscan est un équipement de test et de métrologie des plaquettes multi-applications très avancé. Son environnement logiciel sophistiqué et sa plateforme matérielle complète en font un excellent choix pour les environnements de production dans un large éventail d'industries. Il est spécifiquement conçu pour accroître la fiabilité et la prévisibilité des activités d'essai et de métrologie des wafers, tout en réduisant les coûts et en découvrant des connaissances importantes. KLA 6420 Surfscan utilise un système de numérisation OCM (Optical CD Metrology) unique pour des mesures précises des largeurs de lignes ainsi que des valeurs CD (dimension critique). Il est équipé d'un système d'échantillonnage automatisé et non intrusif « Lights-Out », permettant à l'unité d'effectuer avec précision des inspections de surface complètes des plaquettes et une analyse détaillée des micro-structures pour les clients. La machine est capable de compenser l'inclinaison sur 2 axes, ce qui est essentiel pour sonder et cartographier des structures très planes. TENCOR 6420 Surfscan est également équipé de capacités logicielles de pointe, augmentant les performances de son matériel. Il est capable de capturer et d'analyser divers types de spectres à grande vitesse, y compris à basse et pleine résolution (1GHz/6GHz), et effectue également une gamme complète d'inspections de défauts, tels que TTV, mesures et évaluations de contrôle de processus. Son logiciel est construit sur une interface conviviale, avec l'intention de réduire les erreurs des utilisateurs et d'améliorer l'efficacité globale. PROMETRIX 6420 Surfscan comprend également des fonctionnalités de salles blanches définies par logiciel, offrant aux clients une traçabilité opérationnelle complète via une série d'enregistrements téléchargeables à base de chrome. Avec un étalonnage approprié, il est capable de mesures très précises aussi bas que 2nm. Doté d'une fonctionnalité avancée d'imagerie et de comptage des particules (PIC), il peut également acquérir des données à partir de plaquettes et de réticules dans les processus secs et humides. Au total, 6420 Surfscan représente les dernières avancées dans les systèmes de test et de métrologie des plaquettes. De son outil de métrologie optique sur CD sophistiqué à ses capacités logicielles complètes, cet atout fournit des tests précis, une large gamme de fonctionnalités riches, et une fabrication fiable et rentable.