Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan #9011095 à vendre en France

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KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan
Vendu
ID: 9011095
Particle inspection system.
KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan est un équipement de test et de métrologie automatisé à grande vitesse conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Il est capable de fournir des mesures de métrologie précises et répétables sur de nombreux types de structures d'essai. Le SurfScan 7600 effectue des mesures de rugosité de surface et de dimension critique, permettant une analyse et une caractérisation plus précises des défauts. Le SurfScan 7600 est spécialement conçu pour répondre aux besoins de l'environnement dynamique de production de semi-conducteurs. Il dispose de la plus haute vitesse de fonctionnement et le débit de tout système de surf wafer. Grâce à son unité optique avancée et à sa plate-forme de mouvement automatisée, la machine peut mesurer et analyser rapidement des plaquettes pouvant atteindre 200 mm de diamètre. Il supporte également une grande variété de substrats, dont le silicium, l'arséniure de gallium et le silicium sur isolant. Le SurfScan 7600 comprend également un certain nombre de technologies de pointe conçues pour assurer une métrologie précise et précise. Il dispose d'interférométrie laser avancée, l'imagerie de feuilles lumineuses, et l'alignement automatisé des plaquettes. Ses algorithmes brevetés de dimension critique garantissent des résultats précis et des limites de distribution serrées. Le SurfScan 7600 offre un outil de sonde submicronique dédié, capable de sonder jusqu'à une résolution de 50 nm. Il comprend également une variété de logiciels qui permettent aux utilisateurs de rationaliser et d'optimiser le processus de mesure et d'analyse. En outre, l'actif offre un suivi des processus et des résultats en temps réel, ainsi qu'un accès aux données Web. Le SurfScan 7600 est le modèle de test et de métrologie préféré des fabricants de semi-conducteurs et des laboratoires de recherche. Sa vitesse et sa précision sans précédent en font un outil inestimable dans l'environnement concurrentiel des semi-conducteurs d'aujourd'hui. Il est également très fiable et rentable, ce qui en fait le choix idéal pour toute application de contrôle de la qualité des semi-conducteurs et de métrologie.
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