Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan #9083818 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour la fabrication de semi-conducteurs. Le système est conçu pour fournir une détection automatisée complète des défauts et la caractérisation de la surface des plaquettes semi-conductrices pendant le processus de fabrication des semi-conducteurs. L'unité Surfscan 7600 offre à la fois la réflectométrie spectrale et la microscopie optique pour mesurer avec précision la topologie de surface et les défauts d'une grande variété de matériaux utilisés dans la fabrication de plaquettes semi-conductrices. Cette machine est capable de quantifier la taille, la forme, l'emplacement et l'orientation des défauts et des caractéristiques de taille micron. Avec les capacités de détection avancées de l'outil, il peut détecter des défauts de 0,2 microns de taille ou moins. Le Surfscan 7600 est un atout fiable et de pointe qui est équipé d'une interface utilisateur intuitive et de plusieurs fonctionnalités avancées. Le modèle dispose d'un équipement d'exploitation Windows 10 intégré, d'un écran tactile HD LCD de 20 pouces pour une interaction directe avec l'utilisateur, d'un appareil photo numérique optique de haute qualité et d'une source lumineuse compacte pour l'éclairage et la détection des défauts. Le système est également construit avec un lecteur de codes-barres, un étage automatique motorisé X-Y-Theta et une unité d'identification d'échantillons entièrement automatisée. Le Surfscan 7600 est conçu pour fournir une cartographie précise et fiable de la topologie de surface, la détection des défauts et la caractérisation. C'est une machine flexible capable de tester de nombreux matériaux et procédés spéciaux. L'outil est capable de tester un large éventail de matériaux tels que des plaquettes de silicium, des plaquettes de verre, des métaux, des diélectriques, et d'autres. L'actif possède des capacités complètes de détection, d'identification et d'analyse des défauts. Il est équipé d'une gamme d'outils puissants d'imagerie et d'analyse, y compris des algorithmes sophistiqués de traitement d'image et des logiciels de détection et de classification automatisées des défauts. Le Surfscan 7600 comprend une bibliothèque complète de types de défauts, qui peuvent être utilisés pour la reconnaissance et la classification des défauts. En résumé, KLA 7600 Surfscan est un modèle complet de test de wafer et de métrologie. Il offre des fonctionnalités avancées et des capacités pour tester la topologie de surface et les défauts sur une grande variété de matériaux de substrat utilisés dans le processus de fabrication des semi-conducteurs. Il est capable de détecter les défauts de taille micron, fournir une détection précise et fiable des défauts, et la classification.