Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan #9226703 à vendre en France

KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan
ID: 9226703
Taille de la plaquette: 6"-8"
Particle inspection systems, 6"-8".
KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui est largement utilisé dans le processus de fabrication de semi-conducteurs. Il fournit une analyse rapide et non destructive des caractéristiques optiques, électriques et mécaniques des matériaux. KLA 7600 Surfscan est composé d'une combinaison complexe de capacités de mesure optique et électrique, permettant l'analyse précise d'une variété de matériaux. Le système est équipé d'un gestionnaire de plaquettes et d'un faisceau laser qui est utilisé pour mesurer la hauteur des irrégularités éventuelles sur la surface de plaquettes. En outre, TENCOR 7600 Surfscan est équipé d'interférométrie de lumière blanche, qui utilise des motifs d'interférence de sources lumineuses pour mesurer avec précision la rugosité de surface, la planéité et la profondeur de défaut. Enfin, des détecteurs spécialisés sont également inclus dans l'unité pour mesurer les caractéristiques électriques du matériau, y compris la résistance des tôles et la mobilité des porteurs. 7600 Surfscan est utilisé dans le processus de fabrication de semi-conducteurs pour aider à assurer la qualité des matériaux. En mesurant les irrégularités de surface des plaquettes, les fabricants peuvent identifier plus précisément les défauts éventuels et réduire au minimum le nombre de puces non opérationnelles produites. En outre, PROMETRIX 7600 Surfscan peut être utilisé pour mesurer les caractéristiques électriques des matériaux afin de s'assurer que les appareils fonctionnent correctement avant leur mise en production. KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan est une puissante machine d'essai et de métrologie de plaquettes qui fournit des informations précieuses aux fabricants de semi-conducteurs pour garantir la qualité de leurs matériaux. En utilisant des techniques d'analyse non destructives, il est capable de mesurer avec précision les irrégularités de surface et les caractéristiques électriques des matériaux sans sacrifier aucune des plaquettes. De plus, son fonctionnement rapide permet aux producteurs de semi-conducteurs d'économiser des ressources et de minimiser les défauts pendant le processus de production.
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