Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX AIT I #9139695 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT I est un équipement complet d'essai et de métrologie des plaquettes conçu pour fournir des mesures précises et fiables des plaquettes. Le système est capable d'effectuer des essais non destructifs et de mesurer des plaquettes minces et épaisses avec un minimum de temps et d'effort. L'unité utilise des techniques et des algorithmes de pointe pour détecter et identifier des défauts allant des caractéristiques de surface et des micro-imperfections aux défauts cristallographiques. Il contient également une gamme d'outils logiciels intégrés pour analyser et rendre compte des résultats des tests de wafer. Au cœur de la machine se trouve l'outil breveté d'inspection automatisée KLA (TENCOR AIT), spécialement conçu pour les essais de plaquettes et la métrologie. PROMETRIX AIT utilise des techniques d'imagerie différentielle pour cartographier les caractéristiques de surface à une précision de 3 nm, et ses algorithmes avancés intégrés peuvent détecter et identifier même les plus petits défauts. L'outil intègre également des algorithmes avancés de métrologie optique automatisée, permettant une mesure rapide et précise de la forme et de l'épaisseur des plaquettes. L'actif comprend également KLA/TENCOR/PROMETRIX Micro Imaging Program (TMIP) qui fournit une interface utilisateur facile à utiliser pour effectuer des tests de plaquettes. TMIP permet aux utilisateurs de créer des programmes personnalisés de détection de défauts qui peuvent être adaptés aux besoins spécifiques de leur application spécifique de test de plaquettes. Ces programmes personnalisés peuvent alors être automatiquement exécutés sur KLA AIT, permettant un test rapide et cohérent des plaquettes avec une intervention minimale de l'utilisateur. Le modèle TENCOR AIT complète l'interface utilisateur TMIP avec une gamme d'outils d'analyse statistique avancés. L'équipement contient un moteur histogramme intégré qui peut générer une analyse de tendance puissante et des rapports statistiques. Ces rapports permettent de faire des inférences détaillées sur l'incidence des défauts tels que la densité des particules ou l'uniformité des défauts sur la surface de la plaquette. KLA AIT I est idéal pour une gamme de tests de plaquettes et d'applications de métrologie tels que la fabrication de dispositifs semi-conducteurs, la photolithographie et la gravure. Le système est capable de fournir des résultats extrêmement précis avec une intervention minimale de l'opérateur, ce qui en fait un outil inestimable dans la production de plaquettes de haute qualité.