Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX AIT I #9299885 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT I est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui utilise une technologie d'imagerie et de métrologie de pointe pour fournir une détection et une imagerie de défaut de plaquettes de haute précision en profondeur. L'appareil fait partie du portefeuille de technologies d'inspection par réseaux (AIT), conçu pour répondre aux exigences rigoureuses des applications avancées telles que les systèmes micro-électromécaniques (MEMS), les dispositifs de puissance, l'analyse des plaquettes entières et d'autres applications de défectivité basées sur l'image. Le système AIT I KLA comprend un scanner laser rapide qui utilise des moteurs pas à pas de haute précision pour scanner le substrat avec une résolution de sous-micron. Ce scanner laser rapide est capable d'améliorer la topographie de surface 3D, la réflectance multiple et la netteté d'image. Une unité de commande avancée contrôle le fonctionnement de la machine TENCOR AIT I. L'outil AIT I comprend également des algorithmes de traitement d'image et de calcul de pointe qui sont conçus pour une inspection et une analyse rapides et précises des plaquettes. Ces algorithmes sont utilisés pour détecter des défauts, tels que des bosses, des rayures et des fosses, sur une surface de plaquette. L'actif comprend également de nombreuses techniques avancées de traitement d'images, telles que le seuil adaptatif, la fusion de régions et la manipulation à l'échelle grise. Ces techniques permettent la détection et la quantification des défauts visibles et cachés, indispensables à l'inspection et à la métrologie très précises des plaquettes. PROMETRIX AIT I dispose également d'un puissant équipement d'imagerie de pointe, qui est capable de capturer des images de plaquettes avec une précision plus élevée que jamais. Ce système d'imagerie innovant est capable de mesures interférométriques précises, qui améliorent considérablement la précision et la résolution de l'image de la plaquette. De plus, l'unité dispose d'un programme de calibrage logiciel puissant, qui est utilisé pour générer des profils de plaquettes précis pour l'acquisition automatisée de données. La machine KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT I est conçue pour rationaliser les flux de processus et minimiser les temps d'arrêt, fournir des cycles de livraison plus rapides et réduire les coûts. L'interface utilisateur robuste de l'outil simplifie la formation des opérateurs et la maintenance des produits. Toutes les caractéristiques de cet actif peuvent être intégrées dans les processus globaux de production et de contrôle de la qualité pour garantir l'intégrité et la fonctionnalité fiables du produit. Le modèle AIT I de KLA est un outil indispensable pour tester et métrologie des plaquettes semi-conductrices et d'autres applications de haute précision. Sa polyvalence et sa précision permettent une détection rapide et fiable des défauts, tandis que son puissant équipement d'imagerie assure une inspection en temps réel pour des mesures et analyses de haute précision. Ce système est idéal pour la fabrication moderne de semi-conducteurs et convient parfaitement aux besoins du paysage technologique en constante évolution.