Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX AIT I #9379558 à vendre en France
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ID: 9379558
Taille de la plaquette: 6"-8"
Style Vintage: 1997
Patterned wafer inspection system, 6"-8"
1997 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT I est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir une précision et une vitesse maximales tout en fournissant aux utilisateurs des solutions de détection et de contrôle de processus avancées. Le système est une unité optique et mécanique intégrée capable de contrôler et de tester automatiquement des plaquettes jusqu'à 200 mm de diamètre. La caractéristique la plus avantageuse de KLA AIT I est sa capacité à fournir des données approfondies avec un très haut niveau de précision. Il utilise une combinaison de techniques d'illumination telles que le champ sombre, la lumière de haute intensité, et oblique pour repérer les défauts critiques jusqu'au niveau sous-micron. La machine est suffisamment polyvalente pour détecter une variété de dimensions de caractéristiques telles que la taille, la forme, la présence et le profil. De plus, des algorithmes complexes sont utilisés pour identifier et quantifier avec précision les défauts sur les plaquettes. L'outil TENCOR AIT I est programmé avec des logiciels spécialisés pour fournir aux utilisateurs des solutions automatisées de contrôle des processus. Ce logiciel est conçu pour fournir aux utilisateurs des capacités de détection améliorées et la cohérence des données. Il est capable de surveiller les phases de processus et de détecter les défauts qui peuvent être dus à des problèmes de processus spécifiques. Il fournit également des capacités de contrôle dynamique afin que les utilisateurs puissent ajuster les paramètres pour l'optimisation des processus. L'actif fournit également aux utilisateurs une variété de capacités de métrologie avancées. Il est compatible avec une gamme de sondes d'essai et de métrologie de plaquettes, y compris le courant de Foucault, la lithographie de contact, la piézo-force et les vibrations sonores. Il est capable de mesurer un large éventail de types de caractéristiques, de très petites caractéristiques à l'échelle nanométrique jusqu'au niveau micron. Il est également capable de détecter rapidement les tendances et de prendre des mesures correctives au besoin. AIT I utilise une interface utilisateur graphique moderne (interface graphique) pour rendre le modèle facile à utiliser et à naviguer. Cela permet de réduire considérablement le temps de formation des opérateurs et d'augmenter le débit d'essai. L'interface intuitive permet aux utilisateurs d'accéder rapidement aux résultats des tests, de trier les données et de personnaliser les paramètres des tests. En conclusion, PROMETRIX AIT I est un équipement de test et de métrologie idéal pour les utilisateurs à la recherche d'une précision et d'une vitesse maximales. Sa combinaison de capacités d'inspection automatisée, de contrôle de processus avancé et de métrologie en font un excellent choix pour les applications de test de plaquettes.
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