Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX FT-650 #293646045 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX FT-650 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe largement utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs. KLA FT-650 dispose de capacités d'imagerie optique innovantes qui permettent des mesures rapides et sans contact d'une grande variété de valeurs métriques dans un seul scanner de produit. Les systèmes permettent de tester et de caractériser rapidement et avec précision les matériaux composés semi-conducteurs, les films diélectriques, les films à trous d'épingle, les films métalliques et autres matériaux à couches minces sur n'importe quel substrat. TENCOR FT-650 offre plusieurs fonctionnalités avancées pour optimiser les tests de wafer, y compris les données multi-niveaux, le multiplexage optique, la mesure de topographie multi-canaux sans contact et la reconnaissance automatisée des motifs. De plus, l'agencement optique du système FT-650 permet de mesurer simultanément plusieurs plaquettes à différents endroits de l'unité. PROMETRIX FT-650 utilise des systèmes de microscopie optique 3D très avancés pour mesurer et analyser diverses caractéristiques microscopiques sur le substrat. Les images optiques 3D générées par KLA/TENCOR/PROMETRIX FT-650 peuvent être analysées plus avant grâce aux capacités de reconnaissance avancées du logiciel. Cette fonctionnalité permet une identification et un classement exceptionnellement rapides et précis des plaquettes. Grâce à sa grande précision et à sa répétabilité, la machine est adaptée aux applications de métrologie en couches minces. KLA FT-650 est idéal pour les applications de métrologie en couches minces telles que la caractérisation en couches minces, la mesure de la page de guerre des plaquettes, la mesure de l'épaisseur des films et la caractérisation des appareils. Avec ses images haute résolution, l'outil TENCOR FT-650 permet aux utilisateurs d'identifier et de caractériser avec précision de minuscules caractéristiques sur le substrat. FT-650 la sortie de données de l'actif est conviviale et compatible avec les différents formats standard de l'industrie. PROMETRIX FT-650 fournit aux utilisateurs la possibilité d'exporter des données horodatées en vue d'une révision ultérieure ou d'une intégration dans des logiciels de métrologie tiers. Les données recueillies peuvent être utilisées pour d'autres analyses ou dans des processus de développement de produits en aval tels que l'analyse des défaillances ou l'amélioration des rendements. Globalement, KLA/TENCOR/PROMETRIX FT-650 est un modèle avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour permettre des mesures rapides et précises au sein d'un seul scanner de produit. Avec des fonctionnalités avancées telles que les systèmes de microscopie optique 3D, la reconnaissance automatisée des motifs et la compatibilité de la sortie de données avec les formats standard de l'industrie, KLA FT-650 est un outil précieux pour les applications et l'analyse de couches minces.