Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX M-Gage 300 #9352954 à vendre en France

ID: 9352954
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2001
AI Thickness measurement system, 8" 2001 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui combine des technologies innovantes et des logiciels de pointe pour donner aux utilisateurs les outils pour analyser et inspecter rapidement les plaquettes semi-conductrices. Le système offre une vitesse et une précision inégalées dans les essais de plaquettes et la métrologie. Sa modularité et son évolutivité uniques le rendent très flexible, permettant aux utilisateurs de personnaliser l'appareil pour répondre aux besoins spécifiques de leur application. KLA M-Gage 300 intègre plusieurs technologies de métrologie avancées dans une seule machine, offrant une inspection optique et acoustique complète des micropuces. Il est capable d'analyser un large éventail de matériaux, y compris des matériaux tels que des photorésists, des métaux, des films, et plus encore. Cela garantit des résultats fiables pour un large éventail d'applications, de la localisation des défauts au niveau de la plaquette aux mesures de topographie. L'outil offre une foule de fonctionnalités avancées qui lui permettent de générer des résultats très précis. Il s'agit notamment d'une étape de balayage à deux axes pour l'alignement rapide et précis des plaquettes, d'un atout avancé pour l'imagerie achromatique, d'un modèle hybride unique au microscope et de modèles de test des plaquettes de haute précision. En outre, TENCOR M-Gage 300 est livré avec une puissante suite de logiciels, permettant le traitement rapide de grands volumes de données. L'équipement est extrêmement compact, et le design peu profilé le rend idéal pour les environnements de salle blanche. Le M-Gage 300 est également très intuitif à utiliser, avec une interface utilisateur facile à utiliser et un flux de travail intuitif. Son intégration logicielle avancée garantit un traitement rapide et précis des données. Ce système de test et de métrologie des plaquettes est une solution puissante et polyvalente pour la recherche et l'analyse des plaquettes semi-conductrices. Il fournit aux utilisateurs les outils et les capacités pour produire rapidement des résultats très précis. Son évolutivité, sa modularité et son interface utilisateur intuitive lui permettent d'être très flexible et personnalisable pour répondre aux besoins spécifiques des utilisateurs.
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