Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-100 #9174128 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-100 Wafer Testing and Metrology Equipment est un outil de pointe conçu pour tester et caractériser les dispositifs semi-conducteurs modernes. Le système utilise des optiques de pointe, des processeurs haute vitesse et du matériel précis pour fournir des mesures précises des performances et de la fiabilité de l'appareil. L'unité est constituée d'un sous-système de mesure optique optimisé, d'un sous-système d'imagerie haute résolution et d'un sous-système d'actionneur haute précision. Le sous-système optique comprend une source laser à faible bruit, un moteur linéaire à grande vitesse et des algorithmes précis de quantification des plaquettes. Ceci permet un profilage précis à haute résolution des plaquettes à faible niveau de bruit. Le sous-système d'imagerie comprend une caméra haute résolution, des algorithmes avancés de traitement d'images et des outils précis de métrologie des échantillons. Le sous-système actionneur utilise un ensemble de micro-actionneurs et d'servomoteurs pour la manutention rapide des matériaux et la commande précise du mouvement. KLA Omnimap RS-100 est capable de tester et de métrologie des plaquettes à haute vitesse et très précises. Il est équipé d'un logiciel de vision et de mesure avancé, permettant de superposer plusieurs points de vue et réglages programmables. La machine a la capacité d'acquérir et d'analyser l'épaisseur, la dimension critique, la rugosité de surface et les multiples propriétés matérielles de la plaquette en question. Grâce à cette information, l'information sur le rendement peut être déterminée rapidement, ce qui permet de repérer rapidement les problèmes de microprocesseur et d'évaluer les causes profondes. L'outil offre également de nombreuses fonctionnalités supplémentaires telles que l'inspection in situ, la visualisation en temps réel, les technologies de sondes personnalisables et évolutives, et de nombreuses autres fonctionnalités pour un contrôle précis et fiable de la qualité de la production. Le RS-100 offre également des capacités complètes de traçabilité et de documentation, permettant un contrôle total des données et des métriques de processus par le client. TENCOR Omnimap RS-100 est un atout puissant et polyvalent qui fournit des mesures très précises pour les essais de plaquettes semi-conductrices et la métrologie. Utilisant ses multiples sous-systèmes, ses algorithmes avancés de vision et de traitement d'image et son contrôle précis du mouvement, le modèle offre des résultats fiables et reproductibles qui peuvent être utilisés pour améliorer considérablement la production et le rendement.