Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-100C #293794163 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-100C est un équipement d'essai et de métrologie automatisé de plaquettes de haute performance conçu pour le contrôle des processus semi-conducteurs. Avec sa conception optique innovante, ses algorithmes avancés, son architecture logicielle robuste et son acquisition et analyse rapides d'images, KLA Omnimap RS-100C offre des résultats supérieurs en inspection, métrologie et analyse des plaquettes. Sa conception optique dispose d'un microscope breveté avec un système d'imagerie numérique CCD haute résolution, lui permettant de capturer des images de plaquettes individuelles avec une résolution complète. De plus, une caméra de balayage ligne intégrée permet l'acquisition et l'analyse rapides de grandes séquences d'images. L'éclairage à double longueur d'onde, une profondeur de champ étendue et un traitement avancé des données embarquées permettent une analyse précise des caractéristiques structurelles fines et aident à l'évaluation du para-silicium à haute teneur en nitrure. TENCOR Omnimap RS-100C est alimenté par un logiciel robuste qui lui permet de tirer parti des algorithmes les plus avancés de l'industrie pour l'inspection des plaquettes et la métrologie. Il dispose d'une unité d'analyse d'image, combinant capture d'image,. amélioration de l'image, comparaison des images, extraction des caractéristiques et classification automatique des caractéristiques. Cela permet à la machine d'analyser automatiquement de grands ensembles de données d'image et d'identifier rapidement les défauts et les variations. Omnimap RS-100C est capable de mesurer, détecter et signaler les structures et les défauts avec une grande précision. Ses détections rapides, précises et fiables permettent aux fabricants d'augmenter le rendement des procédés et d'améliorer la qualité des produits. Ses capacités d'analyse de données à haut débit et efficaces aident à réduire les délais de mise sur le marché et les coûts associés aux essais de wafer et à la métrologie. Le RS-100C fournit des mesures précises pour les couches de laminage, les couches de couches minces et les structures à l'intérieur des couches tout en minimisant la probabilité de défaut. Les algorithmes intégrés tels que le seuil à plusieurs niveaux, le montage d'ellipse et les méthodes gravimétriques permettent une mesure et une analyse rapides et précises au niveau de l'appareil. L'outil est conforme aux normes industrielles et économiques telles que l'EDD, la CIB, le JEDEC et l'ITAR. Dans l'ensemble, PROMETRIX Omnimap RS-100C est un actif de nouvelle génération en matière d'essais de plaquettes et de métrologie conçu pour répondre aux exigences élevées du contrôle des procédés de semi-conducteurs. Sa conception optique innovante, ses algorithmes avancés, son architecture logicielle robuste et son acquisition et analyse rapides d'images offrent des résultats supérieurs qui permettent d'augmenter le rendement des processus, d'améliorer la qualité des produits et d'économiser les coûts pour ses utilisateurs.