Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-35e #9188382 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-35e est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie pour l'inspection de plaquettes de silicium à motifs complexes. Il est conçu pour assurer la qualité de la plaquette finie. Ce système teste des plaquettes dans une large gamme d'applications avec une grande vitesse et précision. L'unité RS-35e fonctionne à l'aide de la scatterométrie et de la microscopie de mesure coordonnée (CMM). Cela permet à la machine de mesurer avec précision les dimensions des caractéristiques et la topographie sur les plaquettes à motifs. L'outil est conçu pour être utilisé dans la fabrication de semi-conducteurs, où l'examen manuel des plaquettes à motifs n'est pas possible au niveau du débit de production. L'actif RS-35e utilise un modèle à moteur linéaire pour des essais précis et à grande vitesse des plaquettes à motifs. Cela permet à l'équipement d'atteindre des vitesses d'essai maximales tout en fournissant des résultats précis. Il est également équipé d'un générateur de faisceau et de détecteurs pour effectuer des mesures de scatterométrie sur les plaquettes. Cela permet de mesurer les angles de flanc, la hauteur, la largeur et la surface. Le système RS-35e comprend également un mécanisme de focalisation automatique, qui peut ajuster la focalisation pour les plaquettes de différentes tailles. Cela réduit le temps nécessaire aux essais et assure la précision pour une variété de plaquettes. L'unité a été conçue pour détecter les défauts de surface d'une plaquette à motifs donnée, assurant la qualité des plaquettes finies. La machine comprend des capacités avancées de contrôle des processus et de diagnostic des défauts qui peuvent aider à identifier les erreurs potentielles avec les plaquettes à motifs. Il possède des capacités d'analyse qui permettent de déceler les défauts, les défauts et les tendances, ce qui permet un entretien proactif et la résolution des problèmes potentiels. L'outil RS-35e est très fiable et capable de tester des plaquettes à motifs avec une grande précision et vitesse de manière automatisée. Cet atout est idéal pour une utilisation dans les procédés de fabrication de semi-conducteurs car il assure la qualité de la plaquette finie et réduit le temps et le coût associés aux essais manuels.