Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-55 #293636367 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-55 est un équipement informatisé d'essai et de métrologie des plaquettes conçu pour le contrôle des processus et l'analyse des défauts dans le processus de fabrication des semi-conducteurs. Le système fournit une solution clé en main pour le contrôle des processus et l'analyse des défauts, permettant aux opérateurs de diagnostiquer rapidement et avec précision les problèmes liés à la production. L'unité dispose d'un capteur d'image de 5 mégapixels, permettant l'imagerie haute résolution et la lithographie haute résolution. La machine d'imagerie haute résolution utilise la technologie d'imagerie scientifique CMOS (sCMOS) pour l'imagerie rapide, précise et répétable. En outre, les technologies avancées d'appariement des modèles telles que les méthodes d'analyse des défaillances, l'isolement et la classification des défauts, et la prédiction des défaillances sont intégrées à l'outil de contrôle avancé des processus et d'analyse des défauts. En plus des capacités d'imagerie, l'actif comprend également des outils d'acquisition et d'analyse de données. Ces outils fournissent des indicateurs de performance clés qui permettent aux ingénieurs et aux techniciens de résoudre les problèmes de production rapidement et efficacement. Le modèle comprend la génération automatisée de plans d'essai, la scatterométrie, l'analyse des dimensions critiques, les capacités de manipulation des données et l'analyse des défauts. Pour améliorer l'efficacité de la production, l'équipement est capable de mesurer multi-sites, lui permettant de mesurer plusieurs plaquettes en même temps. Le système est entièrement automatisé et maximise le débit, permettant aux opérateurs d'effectuer les tâches rapidement et avec précision. KLA Omnimap RS-55 est une unité avancée pour fournir aux opérateurs un moyen efficace et fiable de garantir des produits de qualité supérieure et de réduire les coûts de production. Avec ses capacités d'imagerie avancées, ses outils d'acquisition et d'analyse de données, sa génération de plans de test automatisés et ses capacités de mesure multi-sites, la machine offre une solution complète pour les essais de plaquettes et la métrologie.