Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-55C #9362896 à vendre en France

KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-55C
ID: 9362896
Resistivity mapping system.
KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-55C est un équipement complet d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour une productivité élevée et des mesures d'excellente qualité. Il dispose d'une gamme complète de capacités de caractérisation de processus, telles que la résistivité, l'épaisseur de film et les mesures de dopage, pour caractériser les propriétés électriques et optiques des plaquettes. Le système est alimenté par deux étages de numérisation et de métrologie - une station de mesure entièrement automatisée, semi-automatique et manuelle, qui offre une large gamme de tailles de plaquettes, avec une gamme de 200mm à 300mm. Il dispose également d'une unité de mesure optique de haute précision, avec une résolution sous-micron pour une caractérisation avancée de la surface des plaquettes. Le RS-55C est équipé d'une commutation intégrée sous vide et multi-gaz pour la métrologie et le dépôt chimique en phase vapeur. Il offre également une routine d'étalonnage intégrée, et est livré avec un ensemble standard d'optiques de mesure tierces. Cela garantit des résultats de mesure précis et reproductibles, et aide à s'assurer que tous les paramètres de mesure sont conformes à des normes de métrologie rigoureuses. En outre, la machine offre également une détection photo-acoustique avancée pour mesurer la position des micro-caractéristiques et des structures sur la surface de la plaquette pour un traitement très précis. Il offre également une intégration avec des logiciels tels que LabVIEW, et une interface utilisateur graphique intuitive pour un contrôle et une surveillance faciles. Cela permet de rationaliser les opérations de métrologie et de mesure et d'assurer des résultats précis et reproductibles. Dans l'ensemble, KLA Omnimap RS-55C offre un riche ensemble de fonctionnalités avancées conçues pour des tests de plaquettes et une métrologie excellents et fiables. Sa plate-forme optique de haute précision et son logiciel de pointe en font un excellent choix pour la mesure de haute précision des attributs des plaquettes.
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