Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-55TC #9043949 à vendre en France

KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-55TC
ID: 9043949
Taille de la plaquette: 5"
Resistivity Mapping System, 5".
KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-55TC wafer testing and metrology equipment est un outil puissant, polyvalent et précis utilisé dans la fabrication de semi-conducteurs. Il est capable de permettre une analyse de haute performance sur un éventail d'applications, y compris la métrologie de la filière, de la plaquette et du processus. Le système offre une répétabilité superbe et une précision de mesure inégalée. Il dispose d'une tête de balayage à cinq axes haute vitesse 3D de pointe. La tête de balayage à cinq axes utilise des miroirs courbes et des diodes laser pour une métrologie précise sur les sites d'échantillonnage. Le balayage rapide, combiné à un moteur de vision intégré et des algorithmes avancés, permet une collecte de données à haut débit et fiable. Le RS-55TC est conçu pour être utilisé pour une variété d'applications, permettant aux utilisateurs d'analyser toute la surface de la plaquette rapidement et avec précision. Il peut mesurer la déformation des bords, la hauteur d'impression, les profils des bords de filière, la largeur des bords de ligne, la rugosité de la surface et l'angle des parois latérales. L'unité dispose également d'une puissante suite de logiciels de métrologie, ce qui la rend apte à être utilisée par les fabricants de semi-conducteurs tout au long du processus, de la détection des défauts de film à l'analyse des motifs métalliques source/drain. KLA OMNIMAP RS-55/TC offre également un certain nombre d'avantages, comme un faible coût de propriété, une faible empreinte et une facilité d'utilisation. Il est incroyablement flexible et personnalisable, permettant aux utilisateurs d'adapter la machine à leurs besoins spécifiques. Cet outil est conçu pour être utilisé dans des environnements de production où la vitesse, la précision et la répétabilité sont primordiales. Dans l'ensemble, TENCOR OMNIMAP RS-55T/C wafer testing and metrology asset est un outil très fiable et précis, permettant aux utilisateurs d'effectuer une analyse de haute performance de toute la surface de la plaquette rapidement et avec précision. Son jeu de fonctionnalités robuste et suite de logiciels permet aux utilisateurs de personnaliser le modèle à leurs besoins exacts et le rend adapté à une large gamme d'applications dans la fabrication de semi-conducteurs. Le RS-55TC offre un excellent rapport qualité-prix et est le choix idéal pour aider les fabricants à répondre à leurs besoins de processus.
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